Поиск

Выпуск
Название
Авторы
Том 61, № 7 (2018)
Studying the Formation of Si (100) Stepped Surface in Molecular-Beam Epitaxy
Esin M., Hervieu Y., Timofeev V., Nikiforov A.
PDF
(Eng)
Том 59, № 8 (2016)
Step Flow Model of Radial Growth and Shape Evolution of Semiconductor Nanowires
Filimonov S., Hervieu Y.
PDF
(Eng)
Том 61, № 7 (2018)
Parameters of Photo-Sensitive Structures Based on Ge/Si Nanogeterostructures
Douhan R., Kokhanenko A., Lozovoy K.
PDF
(Eng)
Том 59, № 7 (2016)
Temperature and Field Dependences of Parameters of the Equivalent Circuit Elements of MIS Structures Based on MBE n-Hg0.775Cd0.225Te in the Strong Inversion Mode
Voitsekhovskii A., Nesmelov S., Dzyadukh S.
PDF
(Eng)
Том 60, № 11 (2018)
Kinetic Model of the Initial Stage of the Nanowire Growth
Filimonov S., Hervieu Y.
PDF
(Eng)
Том 59, № 2 (2016)
Peculiarities of Determining the Dopant Concentration in the Near-Surface Layer of a Semiconductor by Measuring the Admittance of MIS Structures Based on P-Hg0.78Cd0.22Te Grown by Molecular Beam Epitaxy
Voitsekhovskii A., Nesmelov S., Dzyadukh S.
PDF
(Eng)
Том 60, № 11 (2018)
Comparison of the Growth Processes of Germanium Quantum Dots on the Si(100) and Si(111) Surfaces
Kokhanenko A., Lozovoy K., Voitsekhovskii A.
PDF
(Eng)
Том 58, № 11 (2016)
Formation of Organic Thin Films of Nonlinear Optical Materials by Molecular Layer Epitaxy
Burtman V., Kopylova T., Van Der Boom M., Gadirov R., Tel’minov E., Nikonov S., Nikonova E.
PDF
(Eng)
Том 60, № 11 (2018)
Effect of a Stepped Si(100) Surface on the Nucleation Process of Ge Islands
Yesin M., Nikiforov A., Timofeev V., Mashanov V., Tuktamyshev A., Loshkarev I., Pchelyakov O.
PDF
(Eng)
Том 60, № 11 (2018)
Admittance of MIS-Structures Based on HgCdTe with a Double-Layer CdTe/Al2O3 Insulator
Dzyadukh S., Voitsekhovskii A., Nesmelov S., Sidorov G., Varavin V., Vasil’ev V., Dvoretsky S., Mikhailov N., Yakushev M.
PDF
(Eng)
Том 62, № 6 (2019)
Current-Voltage Characteristics of nBn Structures Based on Mercury Cadmium Telluride Epitaxial Films
Voitsekhovskii A., Nesmelov S., Dzyadukh S., Dvoretsky S., Mikhailov N., Sidorov G.
PDF
(Eng)
Том 60, № 2 (2017)
Temperature Dependences of the Product of the Differential Resistance by the Area in MIS-Structures Based on CdxHg1–xTe Grown by Molecularbeam Epitaxy on Alternative Si and GaAs Substrates
Varavin V., Vasil’ev V., Dvoretskii S., Mikhailov N., Yakushev M., Sidorov G., Voitsekhovskii A., Nesmelov S., Dzyadukh S.
PDF
(Eng)
Том 62, № 5 (2019)
Admittance Characteristics of nBn Structures Based on Hgcdte Grown by Molecular Beam Epitaxy
Voitsekhovskii A., Nesmelov S., Dzyadukh S., Dvoretsky S., Mikhailov N., Sidorov G.
PDF
(Eng)
Том 60, № 1 (2017)
Electron Concentration in the Near-Surface Graded-Gap Layer of MBE n-Hg1–xCdxTe (x = 0.22–0.40) Determined from the Capacitance Measurements of MIS-Structures
Voitsekhovskii A., Nesmelov S., Dzyadukh S., Grigor’ev D., Lyapunov D.
PDF
(Eng)
1 - 14 из 14 результатов
Подсказки:
  • Ключевые слова чувствительны к регистру
  • Английские предлоги и союзы игнорируются
  • По умолчанию поиск проводится по всем ключевым словам (агенс AND экспериенцер)
  • Используйте OR для поиска того или иного термина, напр. образование OR обучение
  • Используйте скобки для создания сложных фраз, напр. архив ((журналов OR конференций) NOT диссертаций)
  • Для поиска точной фразы используйте кавычки, напр. "научные исследования"
  • Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или оператора NOT; напр. конкурс -красоты или же конкурс NOT красоты
  • Используйте * в качестве версификатора, напр. научн* охватит слова "научный", "научные" и т.д.

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».