Theoretical Analysis of the Effect of dU/dt in 4H–SiC Thyristor Structures


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

On the basis of numerical simulation, specificities of the effect of dU/dt in 4H–SiC thyristor structures, related to realization of the recently discovered triggering α-mechanism are analyzed. It is shown that one of the manifestations of this mechanism is a catastrophic reduction in the voltage blocked by a thyristor with an increase in temperature of the structure. Practical ways of eliminating this effect are discussed.

Авторлар туралы

S. Yurkov

Moscow Power Engineering Institute

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: yurkov.sn@mail.ru
Ресей, Moscow, 111250

T. Mnatsakanov

Moscow Power Engineering Institute

Email: yurkov.sn@mail.ru
Ресей, Moscow, 111250

A. Tandoev

Moscow Power Engineering Institute

Email: yurkov.sn@mail.ru
Ресей, Moscow, 111250

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2018