Effect of Injection Depletion in p-Si–n-(Si2)1 –x(ZnSe)x (0 ≤ x ≤ 0.01) Heterostructure


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

The current–voltage characteristics of p-Si–n-(Si2)1 –x(ZnSe)x (0 ≤ x ≤ 0.01) heterostructures are studied at various temperatures. It is found that the current–voltage characteristics of such structures contain a portion of a sublinear increase in the current with voltage such as V = V0 exp(Jad). The concentrations of deep impurities responsible for the appearance of the sublinear portion in the current–voltage characteristic are estimated. The experimental results are explained based on the theory of the injection depletion effect.

Об авторах

A. Saidov

Starodubtsev Physical–Technical Institute, Academy of Sciences of Uzbekistan

Автор, ответственный за переписку.
Email: kvant.ph@mail.ru
Узбекистан, Tashkent, 100084

A. Leyderman

Starodubtsev Physical–Technical Institute, Academy of Sciences of Uzbekistan

Email: kvant.ph@mail.ru
Узбекистан, Tashkent, 100084

Sh. Usmonov

Starodubtsev Physical–Technical Institute, Academy of Sciences of Uzbekistan

Email: kvant.ph@mail.ru
Узбекистан, Tashkent, 100084

K. Amonov

Starodubtsev Physical–Technical Institute, Academy of Sciences of Uzbekistan

Email: kvant.ph@mail.ru
Узбекистан, Tashkent, 100084

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2018

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).