О профильных характеристиках технических поверхностей применительно к наношероховатости
- Авторы: Измайлов В.В.1, Новоселова М.В.1
-
Учреждения:
- Тверской государственный технический университет
- Выпуск: № 16 (2024)
- Страницы: 643-650
- Раздел: Физико-химические основы нанотехнологий
- URL: https://bakhtiniada.ru/2226-4442/article/view/319466
- DOI: https://doi.org/10.26456/pcascnn/2024.16.643
- EDN: https://elibrary.ru/JAOMGZ
- ID: 319466
Цитировать
Полный текст
Аннотация
Рассмотрены параметры структуры технической поверхности на наномасштабном уровне, определяемые профильным методом. Показана возможность применения параметров, определяемых в соответствии с отечественными и международными стандартами для профиля шероховатости (микромасштабный уровень), к характеристике поверхности на наномасштабном уровне, выходящем за рамки стандартов. Такую возможность предоставляет лежащая в основе современных стандартов модель профиля технической поверхности как реализации широкополосного случайного нормального процесса. Проведена экспериментальная проверка нормальности процесса сравнением экспериментальных значений интегральной функции распределения вероятности ординат профиля с теоретическими значениями, подчиняющимися нормальному распределению. Приведены экспериментально полученные значения девяти наиболее важных параметров, а также их соотношения, подтверждающие достоверность модели профиля поверхности как нормального случайного процесса. Применение стандартных параметров профиля поверхности позволяет избежать ошибок и недоразумений, связанных с неоднозначной трактовкой того или иного параметра.
Об авторах
Владимир Васильевич - Измайлов
Тверской государственный технический университет
Email: iz2v2@mail.ru
д.т.н., профессор кафедры прикладной физики
Марина Вячеславовна Новоселова
Тверской государственный технический университетк.т.н., доцент кафедры прикладной физики
Список литературы
- Иванов, И.А. Поверхность деталей машин и механизмов: учебное пособие для вузов / И.А. Иванов, С.В. Губенко, Д.П. Кононов. - Санкт-Петербург: Лань, 2021. - 156 с.
- Геометрические характеристики изделий (GPS). Структура поверхности. Профильный метод. Термины, определения и параметры структуры поверхности: ГОСТ Р ИСО 4287-2014; введ. 01.01.2016. - М.: Стандартинформ, 2014. - 20 с.
- Шероховатость поверхности. Параметры и характеристики: ГОСТ 2789-73. - Взамен ГОСТ 2789-59; введ. 01.01.1975. - М.: Стандартинформ, 2018. - 7 с.
- Шероховатость поверхности. Термины и определения: ГОСТ 25145-82; введ. 01.01.1983. - М.: Изд-во стандартов, 1982. - 20 с.
- Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Terms, definitions and surface texture parameters: ISO 4287:1997; 1st ed. 01.04.1997. - Geneva: ISO copyright office, 1997. 36 p.
- Geometrical product specification (GPS) - Surface texture: Profile - Part 2: Terms, definitions, and surface texture parameters: ISO 21920-2:2021; 1st ed. 01.12.2021. - Geneva: ISO copyright office, 2021. 78 p.
- Иванов, Д.В. Фрактальные свойства наноразмерных пленок никеля и хрома / Д.В. Иванов, А.С. Антонов, Н.Ю. Сдобняков и др. // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов. - 2019. - Вып. 11. - С. 138-152. doi: 10.26456/pcascnn/2019.11.138.
- Антонов, А.С. Исследование морфологии рельефа пленок меди на поверхности слюды / А.С. Антонов, Н.Ю. Сдобняков, Д.В. Иванов, К.Б. Подболотов // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов. - 2017. - Вып. 9. - С. 19-26. doi: 10.26456/pcascnn/2017.9.019.
- Иванов, Д.В. Различные схемы получения фрактального рельефа наноразмерных пленок платины / Д.В. Иванов, А.С. Антонов, Е.М. Семенова и др. // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов. - 2021. - Вып. 13. - С. 156-165. doi: 10.26456/pcascnn/2021.13.156.
- Измайлов, В.В. Влияние нанотопографии поверхностей на характеристики дискретного контакта твердых тел / В.В. Измайлов, М.В. Новоселова // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов. - 2016. - Вып. 8. - С. 139-144.
- Измайлов, В.В. О параметрах нанотопографии технической поверхности и её профиля / В.В. Измайлов, М.В. Новоселова // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов. - 2018. - Вып. 10. - С. 313-321. doi: 10.26456/pcascnn/2018.10.313.
- Григорьев, А.Я. Физика и микрогеометрия технических поверхностей / А.Я. Григорьев. - Минск: Беларуская навука, 2016. - 247 с.
- Уайтхауз, Д. Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы / Д. Уайтхауз. - Долгопрудный: Издательский Дом "Интеллект", 2009. - 472 с.
Дополнительные файлы
