On Outliers Detection for Location-Scale and Shape-Scale Families


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The problem of multiple upper outliers detection in samples from location-scale and shape-scale families is considered. A new test statistic is proposed. The critical values of the new test statistic are tabulated by simulation. The power of the new test and other available tests are compared by simulation.

Авторлар туралы

V. Bagdonavičius

University of Vilnius

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: Vilijandas.bagdonavicius@mif.vu.lt
Литва, Vilnius

M. Nikulin

University of Bordeaux

Email: Vilijandas.bagdonavicius@mif.vu.lt
Франция, Bordeaux

A. Zerbet

FSJES BP 8658

Email: Vilijandas.bagdonavicius@mif.vu.lt
Марокко, Poste Dakhla Agadir

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Springer Science+Business Media, LLC, 2017