The effect of the transformation of point defects under Joule heating on efficiency of LEDs with InGaN/GaN quantum wells

N. I. Bochkareva; A. M. Ivanov; A. V. Klochkov; V. A. Tarala; Yu. G. Shreter

doi:10.1134/S1063785016110146

The effect of the transformation of point defects under Joule heating on efficiency of LEDs with InGaN/GaN quantum wells

Авторлар: Bochkareva N.I.¹, Ivanov A.M.¹, Klochkov A.V.¹, Tarala V.A.², Shreter Y.G.¹
Мекемелер:
1. Ioffe Physical Technical Institute
2. North-Caucasus Federal University
Шығарылым: Том 42, № 11 (2016)
Беттер: 1099-1102
Бөлім: Article
URL: https://bakhtiniada.ru/1063-7850/article/view/201922
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063785016110146
ID: 201922

Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат
Рұқсат жабық

Рұқсат берілді
Рұқсат жабық

Тек жазылушылар үшін

Аннотация
Авторлар туралы
Әдебиет тізімі
Қосымша файлдар
Статистика

Аннотация

It is shown that a short-time Joule heating of the active region of light-emitting diodes with InGaN/GaN quantum wells up to 125°C at a current density of 150 A/cm² stimulates changes in the energy spectrum of defect states in the energy gap of GaN and leads to an increase in the quantum efficiency.