Intracavity Waveguide Spectroscopy of Thin Films


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The method of intracavity waveguide spectroscopy for measuring low optical losses in thin films is proposed. The method also allows one to distinguish transverse and longitudinal modes in low-gain lasers without introducing considerable losses into the cavity.

Авторлар туралы

A. Shulga

Belarusian–Russian University

Email: avkh@mogilev.by
Белоруссия, Mogilev, 212000

A. Khomchenko

Belarusian–Russian University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: avkh@mogilev.by
Белоруссия, Mogilev, 212000

I. Shilova

Belarusian–Russian University

Email: avkh@mogilev.by
Белоруссия, Mogilev, 212000

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2018