An electron-impact ionization study of molecular selenium beams


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

We describe the method and presents results of a mass-spectrometric investigation of the yield of positive ions formed as a result of the dissociative ionization of a molecular selenium beam by electron impact. Appearance energies of fragment ions have been determined from the ionization efficiency curves. The dynamics of formation of the molecular ions of selenium in a temperature interval of 420–495 K has been studied. The energy dependences of the efficiency of formation of singly charged Sen+ (n = 1–3) and doubly charged Se++ ions are analyzed.

Об авторах

A. Zavilopulo

Institute of Electron Physics

Автор, ответственный за переписку.
Email: gzavil@gmail.com
Украина, Uzhgorod, 88017

O. Shpenik

Institute of Electron Physics

Email: gzavil@gmail.com
Украина, Uzhgorod, 88017

M. Mykyta

Institute of Electron Physics

Email: gzavil@gmail.com
Украина, Uzhgorod, 88017

A. Mylymko

Institute of Electron Physics

Email: gzavil@gmail.com
Украина, Uzhgorod, 88017

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2016

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).