Electrostatic Friction Force on an AFM Probe Moving Near a Sample Surface


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Within the framework of nonrelativistic electrodynamics, general formulas have been obtained for the tangential dissipative force of electrostatic friction and the normal attraction force of an axially symmetric probe moving parallel to a smooth surface of homogeneous substrates or substrates coated with thin films upon various combinations of materials. As a numerical example, the interaction of a metal sphere moving above a metal surface has been studied. The calculation results are compared with the available experimental and theoretical results of other authors.

Об авторах

G. Dedkov

Kabardino-Balkarian State University

Автор, ответственный за переписку.
Email: gv_dedkov@mail.ru
Россия, Nalchik, 360004

A. Kanametov

Kabardino-Balkarian State University

Автор, ответственный за переписку.
Email: kanametov_a@mail.ru
Россия, Nalchik, 360004

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2018

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).