Physics of the Solid State
ISSN 1063-7834 (Print)
ISSN 1090-6460 (Online)
Menu
Arquivos
Página principal
Sobre a Revista
Equipe Editorial
Política Editorial
Diretrizes para Autores
Sobre a Revista
Edições
Pesquisa
Edição corrente
Artigos retraídos
Arquivos
Contatos
Todas as revistas
Usuário
Nome de usuário
Senha
Lembrar usuário
Esqueceu a senha?
Cadastro
Notificações
Ver
Assinar
Conteúdo da revista
Pesquisa
Escopo da Busca
Todos
Autores
Título
Resumo
Termos
Texto integral
Navegar
Edições
Por autor
por título
por Seção
Outras Revistas
Assinatura
Entrar no sistema para verificar sua assinatura
Palavras-chave
Domain Wall
Epitaxial Layer
Ferrite
Hall Coefficient
Magnetization Reversal
Manganite
Phonon Spectrum
Raman Spectrum
electrical conductivity
epitaxy
graphite
ionic conductivity
microstructure
phase transition
phase transitions
silicon
silicon carbide
single crystals
superconductivity
thermal expansion
thin films
×
Usuário
Nome de usuário
Senha
Lembrar usuário
Esqueceu a senha?
Cadastro
Notificações
Ver
Assinar
Conteúdo da revista
Pesquisa
Escopo da Busca
Todos
Autores
Título
Resumo
Termos
Texto integral
Navegar
Edições
Por autor
por título
por Seção
Outras Revistas
Assinatura
Entrar no sistema para verificar sua assinatura
Palavras-chave
Domain Wall
Epitaxial Layer
Ferrite
Hall Coefficient
Magnetization Reversal
Manganite
Phonon Spectrum
Raman Spectrum
electrical conductivity
epitaxy
graphite
ionic conductivity
microstructure
phase transition
phase transitions
silicon
silicon carbide
single crystals
superconductivity
thermal expansion
thin films
Página principal
>
Pesquisa
>
Informaçao sobre o Autor
Informaçao sobre o Autor
Talanin, I. E.
Edição
Seção
Título
Arquivo
Volume 58, Nº 3 (2016)
Reviews
Diffusion model of the formation of growth microdefects: A new approach to defect formation in crystals (Review)
Volume 58, Nº 10 (2016)
Impurity Centers
Complex formation in semiconductor silicon within the framework of the Vlasov model of a solid state
TOP
