Air-Oxidation of Nb Nano-Films


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) depth chemical and phase profiling of air-oxidized niobium nanofilms has been performed. It is found that oxide layer thicknesses depend on the initial thickness of the niobium nanofilm. The increase in thickness of the initial Nb nano-layer is due to increase in thickness of an oxidized layer.

Авторлар туралы

A. Lubenchenko

National Research University MPEI

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: LubenchenkoAV@mpei.ru
Ресей, Moscow, 111250

A. Batrakov

National Research University MPEI

Email: LubenchenkoAV@mpei.ru
Ресей, Moscow, 111250

D. Ivanov

National Research University MPEI

Email: LubenchenkoAV@mpei.ru
Ресей, Moscow, 111250

O. Lubenchenko

National Research University MPEI

Email: LubenchenkoAV@mpei.ru
Ресей, Moscow, 111250

I. Lashkov

National Research University MPEI

Email: LubenchenkoAV@mpei.ru
Ресей, Moscow, 111250

A. Pavolotsky

Chalmers University of Technology

Email: LubenchenkoAV@mpei.ru
Швеция, Goteborg, 41296

B. Schleicher

IFW Dresden, Institute for Metallic Materials

Email: LubenchenkoAV@mpei.ru
Германия, Dresden, 01069

N. Albert

IFW Dresden, Institute for Metallic Materials

Email: LubenchenkoAV@mpei.ru
Германия, Dresden, 01069

K. Nielsch

IFW Dresden, Institute for Metallic Materials

Email: LubenchenkoAV@mpei.ru
Германия, Dresden, 01069

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2018