Compact representation of the local atomic structure of matter for machine learning in XANES spectroscopy data processing

详细

A method for representing data on the local structure of atoms in the form of histograms of paired radial distribution functions is proposed. This method is used to construct a structure descriptor needed to determine the structure of materials using machine learning and artificial intelligence techniques. A special feature of the method is the use of two sets of paired radial distribution functions simultaneously: for pairs of all types of atoms and for pairs with a selected absorbing atom. The developed approach was tested on the problem of determining the local atomic structure of the environment of the silver color center in sodium silicate glasses using data from X-ray absorption near-edge structure for the Ag K-edge. The information content of the proposed structure descriptor is demonstrated by the ability to reconstruct the three-dimensional structure of a silver color center model from the corresponding pairwise distance histograms. Using several machine learning methods, it was shown that the proposed descriptor allows to achieve high-quality reproduction (mean square error ~10–3) of X-ray absorption near-edge structure spectra for silver color centers in glass, which makes it possible to reduce the time for calculating X-ray absorption near-edge structure spectra by 4 orders of magnitude. The resulting machine learning model allows us to establish a fundamental connection between the atomic structure of silver color centers in glasses and the Ag X-ray absorption near-edge structure spectrum, which is necessary for determining the structure of glasses.

全文:

ВВЕДЕНИЕ

Методам машинного обучения находят все большее применение в современной науке в целом и материаловедении в частности [1–5]. Одним из широко используемых и развивающихся методов получения информации об атомной структуре вещества является спектроскопия поглощения рентгеновского излучения в энергетическом интервале до ~50 эВ относительно края поглощения (XANES). Этот метод обладает высокой чувствительностью к локальному строению вещества вблизи поглощающего атома и позволяет исследовать структуру даже в отсутствие дальнего порядка. Однако получение информации о трехмерной атомной структуре вещества по данным XANES является достаточно сложной и ресурсоемкой задачей, не всегда приводящей к успеху. Для решения этой задачи могут быть применены методы машинного обучения [6]. В основе этих методов лежит использование математических моделей, параметры которых предварительно подлежат настройке в процессе обучения. В области материаловедения наиболее распространенным способом такой настройки является обучение с учителем, требующее достаточный объем данных о физических характеристиках и свойствах вещества. В настоящее время существуют достаточно крупные базы данных, содержащие информацию о структуре и свойствах различных материалов, такие как AFLOW [7], Materials Project [8], OMDB [9], OQMD [10], QM9 [11, 12], которые можно использовать в процессе настройки модели машинного обучения. Набор данных, предназначенный для обучения, должен быть как можно большего размера и максимально разнообразным для достижения требуемой обобщающей способности модели машинного обучения. К сожалению, при решении узкоспециализированных задач необходимый для обучения модели набор данных может отсутствовать в открытом доступе. В таком случае для улучшения обобщающей способности моделей машинного обучения прибегают к различным техникам для улучшения качества “обучающего” набора данных. Например, в работе [14, 15] применена выборка набора данных по методу латинского гиперкуба, для предположительного уменьшения общего размера набора данных без потери качества обучения на нем. Также, как правило, исследователи ограничиваются рассмотрением нерелаксированных групп атомов вместо более реалистичных, получаемых после выполнения атомной релаксации, а также используют информацию о зависимости входных данных и целевых значений для существенного увеличения объема синтетического набора данных, как это, например, было проведено в работе [6] при генерации теоретических спектров XANES путем смешивания сигналов, полученных от атомов, находящихся в различных неэквивалентных позициях (без учета реалистичности весовых множителей).

В результате использования методов машинного обучения для изучения структуры и свойств материалов возникает потребность в создании удобного представления входных данных о структуре вещества. В частности, в задачах спектроскопии рентгеновского поглощения используют информацию о локальном окружении атомов вблизи поглощающего атома. Для улучшения качества работы методов машинного обучения, а также для учета физики процесса, функция представления данных о структуре вещества должна быть инвариантной по отношению к преобразованиям системы координат с помощью поворота, отражения и сдвига структуры как единого целого, а также такое представление должно быть инвариантно к изменению нумерации атомов в системе. Таким образом, функция представления, называемая “дескриптор”, должна быть однозначно определена для любой рассматриваемой структуры материала и одновременно отражать небольшие изменения в ней, а вычисление этой функции должно быть значительно быстрее прямого вычисления интересующего целевого значения (физического свойства) [15].

В настоящей работе предложен метод представления данных о локальной атомной структуре (дескрипторов) в виде гистограмм парных радиальных функций распределения атомов (ПРФРА), построенных с учетом различия типов атомов. Метод применен для решения задачи определения структуры ближнего окружения атомов серебра в центрах окраски в натриево-силикатных стеклах по данным спектров рентгеновской абсорбционной спектроскопии вблизи K-края поглощения серебра. Известно, что спектры XANES являются крайне чувствительными к локальному окружению атомов вблизи поглощающего атома [16–18]. Поэтому используемые дескрипторы должны однозначным образом кодировать информацию о структуре, а также иметь возможность указания выделенного поглощающего атома.

МЕТОД ГИСТОГРАММ

Описание метода

В настоящей работе применен метод представления данных о локальной атомной структуре вещества в виде гистограмм парных радиальных функций распределений атомов с учетом типов атомов. Были использованы наборы ПРФРА двух видов. Первый вид соответствует общепринятому выбору ПРФРА, при котором усреднены все парные расстояния между выбранными типами атомов. Так, для случая системы из атомов двух сортов A и B будут сформированы четыре ПРФРА: AA, AB, BA и BB (рис. 1а). Дополнительно мы рассматривали ПРФРА, построенные для одного выделенного центрального атома A*, интерпретируемого как атом, поглощающий рентгеновский фотон. В случае присутствия в системе атомов двух сортов это приводит к добавлению еще двух ПРФРА: A*–A и A*–B (рис. 1б, 1в). Для этого выбранного центрального атома A* в дальнейшем строили вклад от него в XANES спектр, поэтому усреднение по всем возможным позициям A не проводили.

 

Рис. 1. Иллюстрация пар атомов типов A и B, учитываемых при построении ПРФРА, при отсутствии (а) и наличии (б, в) выделенного поглощающего рентгеновский фотон атома A*.

 

Гистограммы радиального распределения строили в диапазоне возможных радиусов от Rmin, обусловленного минимально возможным расстоянием между парой атомов, до Rmax, характеризующего размеры области, существенной для формирования спектра поглощения, протяженность которой ограничивается конечностью длины свободного пробега электрона, выбитого рентгеновским фотоном. Гистограммы парных расстояний для каждой возможной пары атомов строили в диапазоне от Rmin до 2Rmax (максимальное допустимое межатомное расстояние внутри рассматриваемого объема) с заранее выбранным шагом ΔR. Общее количество гистограмм Nhist зависит только от количества уникальных атомных типов в структуре:

Nhist = 2Natomstype + C 2Natomstype,

где Natomstype – число типов атомов в системе; C 2Natomstype, число сочетаний из Natomstype по 2. Полученные гистограммы являются инвариантными к изменению нумерации атомов в системе, однако для унификации используемого метода представлений данных необходимо дополнительно определить порядок конкатенации гистограмм для формирования входного набора данных. В настоящей работе использовали представление данных в виде вектора, а соответствующие гистограммы конкатенировали в порядке увеличения атомных номеров в рассматриваемых подсистемах.

Выбор представления данных в виде гистограмм обусловлен помимо всего прочего удобством их интерпретации. То есть, из гистограмм мы можем получить исчерпывающую информацию о типах атомов, их взаимном расположении. В настоящей работе использовали шаг ΔR = 0.1 Å для парных гистограмм, и 0.05 Å – для радиальных, что обусловлено, с одной стороны, чувствительностью спектров XANES к изменению координат атомов в ближайшем окружении относительно поглощающего атома, а с другой стороны – простотой настройки и обучения моделей машинного обучения.

В случае центра окраски в силикатном стекле имеются атомы трех типов – Ag, Si и O, – и один из атомов Ag является поглощающим. В качестве примера рассмотрим центр окраски компонентного состава AgSi2O4, структура которого приведена на вставке на рис. 2, а соответствующие координаты – в табл. 1. Панели на рис. 2 показывают построенные гистограммы ПРФРА. Видно, что гистограммы парных расстояний с атомами серебра пусты, ввиду того, что поглощающий атом – Ag, удален из структуры центра окраски в процессе построения гистограмм. Очевидно, что в случае присутствия в структуре поглощающего атома Ag содержащаяся в них информация дублировала бы информацию из функций радиального распределения. Тем не менее наличие этих гистограмм, заполненных нулевыми значениями интенсивности, необходимо для обеспечения возможности рассмотрения систем, имеющих более одного атома того же типа, что и поглощающий (решение задачи без потери общности).

 

Рис. 2. Представление информации о локальном атомном окружении центра окраски с применением гистограмм радиального распределения относительно поглощающего атома (верхний ряд) и гистограмм всевозможных парных расстояний. На вставке приведена соответствующая структура центра окраски.

 

Таблица 1. Координаты атомов центра окраски с компонентным составом AgSi2O4

Тип атома

X, Å

Y, Å

Z, Å

Ag

0.00

0.00

0.00

O

0.94

1.27

0.87

O

0.26

1.49

–1.06

O

–0.85

–0.09

2.16

O

–1.46

–1.81

1.82

Si

–0.85

1.44

2.57

Si

0.94

1.27

0.87

 

Информативность используемого представления. Обратная задача

Для проверки информативности предложенного дескриптора была предпринята попытка воспроизвести с его помощью трехмерную структуру центра окраски. Для упрощения поставленной задачи можно разделить всю систему на набор подсистем, состоящих из атомов только одного типа. Рассмотрим одну из получившихся подсистем, содержащую атомы типа А. Из гистограммы радиального распределения мы можем легко получить число атомов в данной подсистеме, которое является суммой всех значений в гистограмме. Также очевидно, что число атомов в подсистеме можно получить из соответствующей гистограммы парных расстояний по формуле:

Natoms=1+1+8Nbonds2,

где Nbonds – число межатомных связей в рассматриваемой подсистеме, которое определяется как сумма всех значений в соответствующей гистограмме парных расстояний.

Исходя из полученной информации, мы разместили необходимое количество атомов заданного типа на расстояниях, определенных из соответствующей гистограммы радиального распределения. После этого приступили к решению задачи оптимизации гистограммы парных расстояний при сохранении условия нахождения атомов на правильных расстояниях от начала системы координат, соответствующую задачу можно просто решить в сферической системе координат путем варьирования углов Θ и φ (рис. 3). Очевидно, что восстановленная структура определена с точностью до произвольного поворота/отражения всей системы как единого целого.

 

Рис. 3. Схематичное представление процедуры оптимизации структуры подсистемы AA. Точечным пунктиром показано правильное расположение атомов типа A, сплошным черным цветом – исходные параметры системы.

 

Аналогичным образом восстанавливают структуру остальных подсистем, после чего проводят их “стыковку”. Все подсистемы имеют общий центр (поглощающий атом в нуле координат), поэтому мы можем осуществлять их попарное объединение, для этого фиксируем одну из подсистем, например, A, а вторую подсистему вращаем как единое целое относительно начала системы координат (рис. 4), решая задачу оптимизации функции невязки для гистограммы парных расстояний атомов типов AB. Данную процедуру повторяем для всех оставшихся подсистем.

 

Рис. 4. Схематичное представление процедуры оптимизации относительного положения подсистем A и B. Точечным пунктиром показано положение подсистемы A, пунктиром положение подсистемы B, штрих-пунктиром – ожидаемое положения подсистемы B относительно подсистемы A.

 

Очевидно, что ввиду дискретного характера гистограмм, структура подсистем может быть воспроизведена только с ограниченной точностью, зависящей от выбранного шага ΔR. С учетом обозначенных особенностей используемого дескриптора задача оптимизации непосредственно множества гистограмм сводится к задаче минимизации расстояния между двумя точками в многомерном пространстве значений гистограмм, представляемых разряженными векторами (в которых данные представлены фрагментарно), не чувствительными к малому изменению координат в системе (чувствительность определяется шагом гистограммы), что усложняет процесс оптимизации. Для реконструкции трехмерной структуры системы целесообразно перейти к оптимизации векторов парных расстояний, компоненты которых формируются положениями столбцов в гистограммах, а общее количество компонент определяется суммой всех значений соответствующей гистограммы. На рис. 5 показано качество описания исходной гистограммы, построенной для центра окраски (рис. 1), восстановленного с помощью обсуждаемого дескриптора. Соответствующая восстановленная структура центра окраски также приведена на рис. 5, а ее координаты – в табл. 2.

 

Рис. 5. Сопоставление гистограмм парных расстояний (верхний ряд) и гистограмм радиального распределения относительно поглощающего атома в центре окраски: исходных (пунктиром) и восстановленных (сплошными линиями); на вставке изображена трехмерная восстановленная структура центра окраски.

 

Таблица 2. Координаты атомов восстановленного центра окраски с компонентным составом AgSi2O4

Тип атома

X, Å

Y, Å

Z, Å

Ag

0.00

0.00

0.00

O

–1.01

2.84

1.66

O

0.43

1.64

1.61

O

1.43

–0.41

0.92

O

–0.24

–1.74

2.31

Si

1.93

1.30

1.93

Si

0.97

–0.18

–1.47

 

Таким образом, было показано, что представление информации о локальной атомной структуре вещества в виде набора гистограмм парных расстояний и радиального распределения является информативным, и позволяет восстановить исходную структуру системы по соответствующему дескриптору.

ПРИМЕРЫ ОПИСАНИЯ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫХ ДАННЫХ

Для проверки применимости описанного дескриптора к решению задачи прямого расчета спектров XANES по данным о трехмерной атомной структуре вещества нами было проведено обучение некоторых наиболее распространенных моделей машинного обучения, поддерживающих по умолчанию решение задачи многоцелевой регрессии. В частности, нами были рассмотрены методы на основе алгоритмов случайного леса (RandomForest), дополнительных деревьев (ExtraTrees), методов линейной регрессии с L1 и L2 регуляризацией, реализованных в библиотеке Sklearn [19], а также метод градиентного бустинга над решающими деревьями, реализованный в библиотеке CatBoost [20].

При построении набора данных для обучения рассматривали системы, компонентный состав которых гарантированно содержал атомы серебра, а также включал атомы кислорода и/или кремния. “Обучающий” набор данных включал в себя, как информацию о структуре, полученную из открытых баз данных Materials Project, AFLOW, так и синтетические структуры, полученные случайной генерацией или в процессе байевской оптимизации. Результирующий набор содержал 1800 систем и соответствующих спектров XANES, посчитанных в программе FDMNES [21] в рамках метода конечных разностей. Весь набор данных был поделен на тренировочную и проверочную части, проверочная часть составила 10% от всего объема данных. Оптимизация гиперпараметров моделей осуществлена методом поиска на сетке (GridSearchCV) с перекрестной проверкой на пяти подмножествах, оценка точности обученных моделей приведена на рис. 6.

 

Рис. 6. Величина среднеквадратичной ошибки предсказания спектров XANES используемых моделей машинного обучения на тренировочном (темно-серым) и проверочном (светло-серым) подмножествах данных.

 

Стоит отметить, что применение метода градиентного бустинга для задачи многоцелевой регрессии, реализованного в CatBoost, не только демонстрирует наилучшее описание данных по сравнению с другими методами машинного обучения, рассмотренными в рамках настоящей работы, но также позволяет добиться хорошей обобщающей способности модели машинного обучения, даже без существенной настройки гиперпараметров. Сопоставление некоторых случайно выбранных из многих спектров XANES, рассчитанных в программе FDMNES и полученных с применением модели машинного обучения на основе градиентного бустинга на деревьях решений, представлено на рис. 7. Из представленного сопоставления можно заключить, что качество работы модели машинного обучения практически не меняется при переходе от тренировочного набора данных, на которых проведена настройка параметров модели, к тестовой части данных, что указывает на отсутствие явного переобучения модели. Также стоит отметить, что рассматриваемая модель машинного обучения достаточно точно воспроизводит положения максимумов и их относительные интенсивности на спектрах XANES за краем поглощения (особенности в этой области очень чувствительны к изменениям в атомной структуре образца), а средняя невязка между рассчитанными спектрами составляет порядка ~10–3.

 

Рис. 7. Сопоставление спектров поглощения рентгеновского излучения вблизи K-края Ag, полученных с применением модели градиентного бустинга (сплошная линия), и спектров, рассчитанных в программе FDMNES (пунктирная линия), для тренировочного (сверху) и проверочного (снизу) подмножества данных.

 

Для дополнительной проверки обобщающей способности обученной модели был рассчитан спектр центра окраски в натриево-силикатном стекле, структура которого была определенна в работе [22], не входящий в обучающих набор данных. Обученная модель на основе методов градиентного бустинга на деревьях решений воспроизводит все основные особенности спектра структуры центра окраски из работы [22], соответствующее качество описания спектра приведено на рис. 8.

 

Рис. 8. Сопоставление спектров поглощения рентгеновского излучения вблизи K-края Ag, полученных с применением модели градиентного бустинга (сплошная линия), и спектра, рассчитанного в программе FMNESS (пунктирная линия), центра окраски в натриево-силикатной стеклянной матрице со структурой, полученной в работе [22] (показана на вставке).

 

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

В рамках настоящей работы был предложен дескриптор для описания локальной атомной структуры вещества с выделенным атомом на основе представления данных в виде гистограмм всевозможных парных расстояний и гистограмм радиального распределения относительно выделенного (поглощающего) атома. Продемонстрирована информативность такого представления данных о структуре вещества, а также возможность интерпретации дескриптора для восстановления исходной трехмерной локальной атомного строения вещества с точностью до шага гистограммы. Предложенный дескриптор позволяет добиться качественного описания (расхождение составляет ~10–3) спектров XANES для центров окраски в стекле рассчитанных с помощью программы FDMNES, среднее время расчета одного спектра с применением FDMNES составляло ~30 мин, а время расчета одного спектра методами машинного обучения в среднем составило ~7 мс. Также применение предложенного дескриптора и моделей машинного обучения на основе градиентного бустинга на деревьях решений позволило качественно воспроизвести спектр структуры, описывающей экспериментальные данные центра окраски в натриево-силикатной стеклянной матрице, установленной в работе [22].

ФИНАНСИРОВАНИЕ РАБОТЫ

Работа выполнена при поддержке Российского научного фонда (грант № 23-21-00526).

Конфликт интересов. Авторы данной работы заявляют, что у них нет конфликта интересов

×

作者简介

I. Viklenko

Southern Federal University

编辑信件的主要联系方式.
Email: viklenko@sfedu.ru
俄罗斯联邦, 344090, Rostov-on-Don

V. Srabionyan

Southern Federal University

Email: viklenko@sfedu.ru
俄罗斯联邦, 344090, Rostov-on-Don

V. Durymanov

Southern Federal University

Email: viklenko@sfedu.ru
俄罗斯联邦, 344090, Rostov-on-Don

Ya. Gladchenko-Dzhevelekis

Southern Federal University

Email: viklenko@sfedu.ru
俄罗斯联邦, 344090, Rostov-on-Don

V. Razdorov

Southern Federal University

Email: viklenko@sfedu.ru
俄罗斯联邦, 344090, Rostov-on-Don

L. Avakyan

Southern Federal University

Email: viklenko@sfedu.ru
俄罗斯联邦, 344090, Rostov-on-Don

L. Bugaev

Southern Federal University

Email: viklenko@sfedu.ru
俄罗斯联邦, 344090, Rostov-on-Don

参考

  1. Seko A., Toyoura K., Muto S., Mizoguchi T., Brode- rick S. // MRS Bull. 2018. V. 43. № 9. P. 6905.
  2. Хаметова Э.Ф., Бакиева О.Р. // Ученые записки Физического факультета МГУ. 2022. Т. 4. С. 2240703.
  3. Гуда С.А., Алгасов А.С. Технологии машинного обучения для анализа геометрии молекул // Вестник Ростовского Государственного университета путей сообщения. 2019. Т. 2. Вып. 74. С. 84.
  4. Орешко Е.И., Ерасов В.С., Сибаев И.Г., Луценко А.Н., Шершак П.В. // Авиационные материалы и технологии. 2022. Т. 4. Вып. 69. P. 132.
  5. Bratchenko I.A., Artemyev D.N., Khristoforova Y.A., Bratchenko L.A. // Biomed. Opt. Express. 2019. V. 10. № 9. P. 4489.
  6. Timoshenko J., Lu D., Lin Y., Frenkel A.I. // J. Phys. Chem. Lett. 2017. V. 8. № 20. P. 5091.
  7. Curtarolo S., Setyawan W., Wang S., Xue J., Yang K., Taylor R.H., Nelson L.J., Hart G.L.W., Sanvito S., Buongiorno-Nardelli M., Mingo N., Levy O. // Comput. Mater. Sci. 2012. V. 58. P. 227.
  8. Jain A., Ong S.P., Hautier G., Chen W., Richards W.D., Dacek S., Cholia S., Gunter D., Skinner D., Ceder G., Persson K.A. // APL Mater. 2013. V. 1. № 1. P. 011002.
  9. Borysov S.S., Geilhufe R.M., Balatsky A.V. // PLoS One. 2017. V. 12. № 2. P. 0171501. https://doi.org/10.1371/journal.pone.0171501
  10. Saal J.E., Kirklin S., Aykol M., Meredig B., Wolver- ton C. // JOM. 2013. V. 65. № 11. P. 1501.
  11. Ruddigkeit L., van Deursen R., Blum L.C., Reymond J.-L. // J. Chem. Inf. Model. 2012. V. 52. № 11. P. 2864.
  12. Ramakrishnan R., Dral P.O., Rupp M., von Lilienfeld O.A. // Sci. Data. 2014. V. 1. № 1. P. 140022.
  13. Shields M.D., Zhang J. // Reliability Engineering System Safety. 2016. V. 148. P. 96. https://doi.org/10.1016/j.ress.2015.12.002
  14. Guda A.A., Guda S.A., Martini A., Bugaev A.L., Soldatov M.A., Soldatov A.V., Lamberti C. // Radiat. Phys. Chem. 2020. V. 175. P. 108430.
  15. Himanen L., Jäger M.O.J., Morooka E. V., Federici Canova F., Ranawat Y.S., Gao D.Z., Rinke P., Foster A.S. // Comput. Phys. Commun. 2020. V. 247. P. 106949.
  16. Vedrinskii R.V., Kraizman V.L. // Uspekhi Fiz. Nauk. 1988. V. 154. № 1. P. 172.
  17. Koningsberger D.C., Prins R. X-ray absorption: principles, applications, techniques of EXAFS, SEXAFS and XANES. N.Y.: John Wiley and Sons Inc., 1987.
  18. van Bokhoven J.A., Lamberti C. X-Ray Absorption and X-Ray Emission Spectroscopy // X-Ray Absorption and X-Ray Emission Spectroscopy: Theory and Applications / Ed. Van Bokhoven J.A., Lamberti C. Chichester, UK: John Wiley & Sons, Ltd, 2016. P. 1.
  19. Pedregosa F., Varoquaux G., Gramfort A., Michel V., Thirion B., Grisel O., Blondel M., Prettenhofer P., Weiss R., Dubourg V., Vanderplas J., Passos A., Cournapeau D., Brucher M., Perrot M., Duchesnay E. // J. Mach. Learn. Res. 2011. V. 12. P. 2825.
  20. Prokhorenkova L., Gusev G., Vorobev A., Dorogush A.V., Gulin A. CatBoost: unbiased boosting with categorical features. 2017. arXiv:1706.09516 https://doi.org/10.48550/arXiv.1706.09516
  21. Joly Y. // Phys. Rev. B. 2001. V. 63. № 12. P. 125120.
  22. Srabionyan V.V., Avakyan L.A., Durymanov V.A., Rubanik D.S., Viklenko I.A., Skunova A.V., Bugaev L.A. // J. Phys. Chem. Solids. 2023. V. 179. P. 111412.

补充文件

附件文件
动作
1. JATS XML
2. Fig. 1. Illustration of pairs of atoms of types A and B taken into account when constructing the FRPA, in the absence (a) and presence (b, c) of the selected X-ray photon-absorbing atom A*.

下载 (95KB)
3. Fig. 2. Representation of information about the local atomic environment of a color center using histograms of the radial distribution relative to the absorbing atom (upper row) and histograms of all possible pairwise distances. The inset shows the corresponding structure of the color center.

下载 (233KB)
4. Fig. 3. Schematic representation of the optimization procedure for the structure of the A–A subsystem. The dotted line shows the correct arrangement of atoms of type A, and the solid black color shows the initial parameters of the system.

下载 (82KB)
5. Fig. 4. Schematic representation of the procedure for optimizing the relative position of subsystems A and B. The dotted line shows the position of subsystem A, the dashed line shows the position of subsystem B, and the dashed line shows the expected position of subsystem B relative to subsystem A.

下载 (82KB)
6. Fig. 5. Comparison of histograms of pairwise distances (top row) and histograms of radial distribution relative to the absorbing atom in the color center: original (dashed) and reconstructed (solid lines); the inset shows the three-dimensional reconstructed structure of the color center.

下载 (230KB)
7. Fig. 6. The value of the root-mean-square error of prediction of XANES spectra of the used machine learning models on the training (dark gray) and testing (light gray) data subsets.

下载 (65KB)
8. Fig. 7. Comparison of the X-ray absorption spectra near the K-edge of Ag obtained using the gradient boosting model (solid line) and the spectra calculated in the FDMNES program (dashed line) for the training (top) and validation (bottom) data subsets.

下载 (225KB)
9. Fig. 8. Comparison of the X-ray absorption spectra near the K-edge of Ag obtained using the gradient boosting model (solid line) and the spectrum calculated in the FMNESS program (dashed line) of a color center in a sodium silicate glass matrix with the structure obtained in [22] (shown in the inset).

下载 (111KB)

版权所有 © Russian Academy of Sciences, 2024

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».