Структура и морфология материала на основе вольфрама первой стенки дивертора токамака до и после облучения водородной плазмой
- Авторы: Поляков Д.Д.1,2, Воронин А.В.1, Нащекин А.В.1, Левин А.А.1
-
Учреждения:
- Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе
- Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет “ЛЭТИ”
- Выпуск: № 2 (2025)
- Страницы: 101-118
- Раздел: Статьи
- URL: https://bakhtiniada.ru/1028-0960/article/view/306506
- DOI: https://doi.org/10.31857/S1028096025020133
- EDN: https://elibrary.ru/eijzre
- ID: 306506
Цитировать
Аннотация
Об авторах
Д. Д. Поляков
Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе; Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет “ЛЭТИ”Санкт-Петербург, 194021 Россия; Санкт-Петербург, 197022 Россия
А. В. Воронин
Физико-технический институт им. А.Ф. ИоффеСанкт-Петербург, 194021 Россия
А. В. Нащекин
Физико-технический институт им. А.Ф. ИоффеСанкт-Петербург, 194021 Россия
А. А. Левин
Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе
Email: aleksandr.a.levin@mail.ioffe.ru
Санкт-Петербург, 194021 Россия
Список литературы
- Будаев В.П. // ВАНТ. Сер. Термоядерный синтез. 2015. Т. 38. № 4. С. 5. https://www.doi.org/10.21517/0202-3822-2015-38-4-5-33
- Воронин А.В., Александров А.Е., Бер Б.Я., Брунков П.Н., Борматов A.A., Гусев В.К., Демина Е.В., Новохацкий A.Н., Павлов С.И., Прусакова М.Д., Сотникова Г.Ю., Яговкина М.А. // ЖТФ. 2016. Т. 86. № 3. С. 51.
- Seyedhabashi M.M., Tafreshi M.A., Bidabadi B.S., Shafiei S., Abdisaray A. // Appl. Radiat. Isot. 2019. V. 154. P. 108875. https://www.doi.org/10.1016/j.apradiso.2019.108875
- Bhuyan M., Mohanty S.R., Rao C.V.S., Rayjada P.A., Raole P.M. // Appl. Surf. Sci. 2013. V. 264. P. 674. https://www.doi.org/10.1016/j.apsusc.2012.10.093
- Parish C.M., Wang K., Doerner R.P., Baldwin M.J. // Scr. Mater. 2017. V. 127. P. 132. https://www.doi.org/10.1016/j.scriptamat.2016.09.018
- Javadi S., Ouyang B., Zhang Z., Ghoranneviss M., Elahi A.S., Rawat R.S. // Appl. Surf. Sci. 2018. V. 443. P. 311. https://www.doi.org/10.1016/j.apsusc.2018.03.039
- Makhlaj V.A., Garkusha I.E., Malykhin S.V., Pugachov A.T., Landman I., Linke J., Pestchanyi S., Chebotarev V.V., Tereshin V.I. // Phys. Scr. 2009. V. 2009. № T138. P. 014060. https://www.doi.org/10.1088/0031-8949/2009/T138/014060
- Makhlaj V.A., Garkusha I.E., Linke J., Malykhin S.V., Aksenov N.N., Byrka O.V., Herashchenko S.S., Surovitskiy S.V., Wirtz M. // Nucl. Mat. Energ. 2016. V. 9. P. 116. https://www.doi.org/10.1016/j.nme.2016.04.001
- Арутюнян З.Р., Огородникова О.В., Аксенова А.С., Гаспарян Ю.М., Ефимов В.С., Харьков М.М., Казиев А.В., Волков Н.В. // Поверхность. Рентген. cинхротр. нейтрон. исслед. 2020. Т. 12. № 12. С. 21. https://www.doi.org/10.31857/S1028096020120067
- Wang K., Doerner R.P., Baldwin M.J., Meyer F.W., Bannister M.E., Darbal A., Stroud R., Parish C.M. // Sci. Rep. 2017. V. 7. № 42315. P. 1. https://www.doi.org/10.1038/srep42315
- Kozushkina A., Pavlov S.I., Voronin A.V., Sokolov R.V., Levin A.A. // J. Phys.: Conf. Ser. 2020. V. 1697. P. 01234. https://www.doi.org/10.1088/1742-6596/1697/1/012134
- Herashchenko S.S., Girka O.I., Surovitskiy S.V., Makhlai V.A., Malykhin S.V., Myroshnyk M.O., Bizyukov I.O., Aksenov N.N., Borisova S.S., Bizyukov O.A., Garkusha I.E. // Nucl. Instr. Meth. B. 2019. V. 440. P. 82. https://www.doi.org/10.1016/j.nimb.2018.12.010
- Tokitani M., Miyamoto M., Masuzaki S., Hatano Y., Lee S.E., Oya Y., Otsuka T., Oyaidzu M., Kurotaki H., Suzuki T., Hamaguchi D., Hayashi T., Asakura N., Widdowson A., Jachmich S., Rubel M. // Phys. Scr. 2020. V. 2020. № T171. P. 014010. https://www.doi.org/10.1088/1402-4896/ab3d09
- Zhao C., Chen Y., Song J., Mei X., Pan Q., Zhang R., Yang L., Zhao F., Li J., Wang D. // Plasma Phys. Control. Fusion. 2023. V. 65. № 1. P. 015012. https://www.doi.org/10.1088/1361-6587/aca4f6
- Guo W., Wang S., Xu K., Zhu Y., Wang X.-X., Cheng L., Yuan Y., Fu E., Guo L., De Temmerman G., Lu G.-H. // Phys. Scr. 2020. V. 2020. № T171. 014004. https://www.doi.org/10.1088/1402-4896/ab36d8
- Gago M., Kreter A., Unterberg B., Wirtz M. // Phys. Scr. 2020. V. 2020. № T171. P. 014007. https://www.doi.org/10.1088/1402-4896/ab3bd9
- Kengesbekov A., Rakhdilov B., Satbaeva Z. Investigation of Microstructure and Mechanical Properties of Tungsten Irradiated by Helium Plasma. Preprint 2023111205. 2023. https://www.doi.org/10.20944/preprints202311.1205.v1
- Khan A., de Temmerman G., Kajita S., Greuner H., Balden M., Hunger K., Ohno N., Hwangbo D., Tomita Y., Tokitani M., Nagata D., Yajima M. // Phys. Scr. 2020. № T171. P. 014050. https://www.doi.org/10.1088/1402-4896/ab52c6
- Гусев В.К., Голант В.Е., Гусаков Е.З., Дьяченко В.В., Ирзак М.А., Минаев В.Б., Мухин Е.Е., Новохацкий А.Н., Подушникова К.А., Раздобарин Г.Т., Сахаров Н.В., Трегубова Е.Н., Узлов В.С., Щербинин О.Н., Беляков В.А., Кавин А.А., Косцов Ю.А., Кузьмин Е.Г., Сойкин В.Ф., Кузнецов Е.А., Ягнов В.А. // ЖТФ. 1999. Т. 69. № 9. С. 58.
- DIFFRAC.EVA. (2024) Software for the analysis of 1D and 2D X-ray datasets including visualization, data reduction, phase identification and quantification, statistical evaluation. Bruker AXS. Karlsruhe. Germany. https://www.bruker.com/ru/products-and-solutions/diffractometers-and-x-ray-microscopes/x-ray-diffractometers/diffrac-suite-software/diffrac-eva.htm. Cited 5 Juni 2024
- International Centre for Diffraction Data (ICDD). Powder Diffraction File-2 (2014) Newton Square, PA, USA. https://www.icdd.com/. Cited 5 Juni 2024
- Maunders C., Etheridge J., Wright N., Whitfield H.J. // Acta. Crystallogr. B. 2005. V. 61. № 1. 154. https://www.doi.org/10.1107/S0108768105001667
- Terlan B., Levin A.A., Börrnert F., Simon F., Oschatz M., Schmidt M., Cardoso-Gil R., Lorenz T., Baburin I.A., Joswig J.-O., Eychmüller A. // Chem. Mater. 2015. V. 27. № 14. P. 5106. https://www.doi.org/10.1021/acs.chemmater.5b01
- Terlan B., Levin A.A., Börrnert F., Zeisner J., Kataev V., Schmidt M., Eychmüller A. // Eur. J. Inorg. Chem. 2016. V. 6. № 21. P. 3460. https://www.doi.org/10.1002/ejic.201600315
- Langford J.I., Cernik R.J., Louer D. // J. Appl. Crystallogr. 1991. V. 24. № 5. P. 913. https://www.doi.org/10.1107/S0021889891004375
- Levin A.A. Program SizeCr for calculation of the microstructure parameters from X-ray diffraction data. 2022. https://www.doi.org/10.13140/RG.2.2.15922.89280
- Rehani B.R., Joshi P.B., Lad K.N., Pratap A. // Indian J. Pure Appl. Phys. 2006. V. 44. № 2. P. 157.
- Scherrer P. // Nachr. Kӧnigl. Ges. Wiss. Gӧttingen. 1918. B. 26. S. 98.
- Stokes A.R., Wilson A.J.C. // Proc. Phys. Soc. London. 1944. V. 56. № 3. P. 174. https://www.doi.org/10.1088/0959-5309/56/3/303
- Coelho A.A. // J. Appl. Crystallogr. 2018. V. 51. P. 210. https://www.doi.org/10.1107/S1600576718000183
- Berger H. // X-ray Spectrom. 1986. V. 15. № 4. P. 241. https://www.doi.org/10.1002/xrs.1300150405
- Pitschke W., Hermann H., Mattern N. // Powder Diffr. 1993. V. 8. № 2, P. 74. https://www.doi.org/10.1017/S0885715600017875
- Rietveld H.M. // Z. Kristallogr. 2010. B. 225. № 12. S. 545. https://www.doi.org/10.1524/zkri.2010.1356
- Dubrovinsky L.S., Saxena S.K. // Phys. Chem. Miner. 1997. V. 24. № 8. P. 547. https://www.doi.org/10.1007/s002690050070
- Dollase W.A. // J. Appl. Crystallogr. 1986. V. 19. № 4. P. 267. https://www.doi.org/10.1107/S0021889886089458
- Järvinen M. // J. Appl. Crystallogr. 1993. V. 26. № 4. P. 525. https://www.doi.org/10.1107/S0021889893001219
- Cheary R.W., Coelho A.A. // J. Appl. Crystallogr. 1992. V. 25. № 2. P. 109. https://www.doi.org/10.1107/S0021889891010804
- Balzar D., Voigt-function model in diffraction line-broadening analysis. // Defect and Microstructure Analysis by Diffraction. / Ed. Snyder R.L., Fiala J., Bunge H.J. Oxford: IUCr, Oxford Uni. Press, 1999. P. 94.
- Balashova E., Levin A.A., Fokin A., Redkov A., Krichevtsov B. // Crystals. 2021. V. 11. № 11. P. 1278. https://www.doi.org/10.3390/cryst11111278
- Bérar J.-F., Lelann P.J. // J. Appl. Crystallogr. 1991. V. 24. № 1. P. 1. https://www.doi.org/10.1107/S0021889890008391
- Andreev Yu.G. // J. Appl. Crystallogr. 1994. V. 27. № 2. P. 288. https://www.doi.org/10.1107/S002188989300891X
- Levin A.A. Program RietESD for correction of estimated standard deviations obtained in Rietveld-refinement programs. 2022. https://www.doi.org/10.13140/RG.2.2.10562.04800
- Narykova M.V., Levin A.A., Prasolov N.D., Lihachev A.I., Kardashev B.K., Kadomtsev A.G., Panfilov A.G., Sokolov R.V., Brunkov P.N., Sultanov M.M., Kuryanov V.N., Tyshkevich V.N. // Crystals. 2022. V. 12. № 2. P. 166. https://www.doi.org/10.3390/cryst12020166
- Hill R.J., Fischer R.X. // J. Appl. Crystallogr. 1990. V. 23. № 5. P. 462. https://www.doi.org/10.1107/S0021889890006094
- Pecharsky V.K., Zavalij P.Y. Preferred orientation. // Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials. 2nd edition. New York, USA: Springer Science+Business Media LLC, 2009. P. 194.
Дополнительные файлы
