Отправить статью по E-mail 
Метод регистрации спектров вторичных электронов и экспериментальные исследования электронной структуры атомов стали Х17АГ18 и металлокерамики ZrC
- Авторы: Шулепов И.А.1, Мировая Е.С.1, Нейман А.А.1, Буякова С.П.1, Ботаева Л.Б.2
-
Учреждения:
- Институт физики прочности и материаловедения СО РАН
- Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники
- Выпуск: № 10 (2024)
- Страницы: 57-65
- Раздел: Статьи
- URL: https://bakhtiniada.ru/1028-0960/article/view/276169
- DOI: https://doi.org/10.31857/S1028096024100076
- EDN: https://elibrary.ru/SHIDDB
- ID: 276169
Цитировать
Открытый доступ
Доступ предоставлен
Только для подписчиков
Аннотация
Проведен обзор использования электронной спектроскопии для исследования физико-химических свойств твердых тел. Отмечено, что основным источником информации об электронных состояниях атомов являются энергетическое распределение электронов, возбужденных ионами, рентгеновскими квантами, лазерными пучками. В работе кратко рассмотрены проблемы, существующие при регистрации спектров вторичных электронов, полученных при возбуждении поверхности образцов электронами средних (1–20 кэВ) энергий, и способы решения этих проблем с целью повышения информативности и точности результатов исследований. Предложен метод регистрации спектров вторичных электронов, в интегральном виде, при использовании оже-спектрометра, который позволяет повысить энергетическое разрешение метода. Возможности метода продемонстрированы на примере экспериментальных исследований карбида циркония и стали Х17АГ18.
Об авторах
И. А. Шулепов
Институт физики прочности и материаловедения СО РАН
Email: larisa.b.botaeva@tusur.ru
Россия, Томск
Е. С. Мировая
Институт физики прочности и материаловедения СО РАН
Email: larisa.b.botaeva@tusur.ru
Россия, Томск
А. А. Нейман
Институт физики прочности и материаловедения СО РАН
Email: larisa.b.botaeva@tusur.ru
Россия, Томск
С. П. Буякова
Институт физики прочности и материаловедения СО РАН
Email: larisa.b.botaeva@tusur.ru
Россия, Томск
Л. Б. Ботаева
Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники
Автор, ответственный за переписку.
Email: larisa.b.botaeva@tusur.ru
Россия, Томск
Список литературы
- Василевский А.С. Физика твердого тела. М.: Дрофа, 2010. 206 с.
- Панин В.Е., Сурикова Н.С., Смирнова А.С., Почивалов Ю.И. // Физическая мезомеханика. 2018. Т. 21. № 3. С. 12. https://www.doi.org/10.24411/1683-805X-2018-13002
- Кулькова С.Е., Валуйский Д.В., Смолин И.Ю. // Физика твердого тела. 2001. Т. 43. Вып. 4. С. 706.
- Mikhaylushkin A.S., Isaev E.I., Vekilov Yu.Kh., Simak S.I. // Physics of the solid state. 2003. V. 45 (12). P. 2213. https://www.doi.org/10.1134/1.1635487
- Лопатина О.В. Атомная и электронная структура систем Zr–He и Zr–He–H: первопринципные исследования: Дис. канд. физ.-мат. наук: 01.04.07. Томск: ТПУ, 2013. 115 с.
- Сеньковский Б.В., Усачев Д.Ю., Федоров А.В., Шеляков А.В., Адамчук В.К. // Физика твердого тела. 2012. Т. 54. Вып. 8. С. 1441.
- Сеньковский Б. В. Электронная энергетическая структура сплавов Ti–Ni и TiNi–Cu: Дис. канд. физ.-мат. наук: 01.04.07. Санкт-Петербург: СПбГУ, 2013. 125 с.
- Soldatov A.V., Kravtsova A.N., Fleet M.E., Harmer S.L. // J. Phys.: Condensed Matter. 2004. V. 16. № 41. P. 7545. https://www.doi.org/10.1088/0953-8984/16/41/031
- Шабанова И.Н., Теребова Н.С., Кормилец В.И. // Физика твердого тела. 2000. Т. 42. Вып. 7. С. 1161.
- Гаврилюк В.Г. // Известия РАН. Серия физическая. 2005. Т. 69. № 10. С. 1470.
- Simka W., Krzakała A., Kuna K., Korotin D.M., Kurmaev E.Z., Zhidkov I.S., Cholakh S.O., Dercz G., Michalska J., Suchanek K., Gorewoda T. // Electrochimica Acta. 2013. V. 96. P. 180. https://www.doi.org/10.1016/j.electacta.2013.02.102
- Ткаченко В.Г., Зауличный Я.В., Кондрашев А.И., Малка А.Н., Абрамов А.А. // Вісник Українського матеріалознавчого товариства. 2012. № 1(5). С. 72.
- Seah M.P. // J. Electron Spectroscopy and Related Phenomena. 1999. V. 100. Iss. 1–3. P. 55.
- Загоренко А.И., Запорожченко В.И. Изучение точности измерения интенсивности в электронной оже-спектроскопии. // Тезисы докладов VII Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, Звенигород. 1991. С. 107.
- Загоренко А.И., Запорожченко В.И., Бородянский С.Э., Абашкин Ю.Г. // Поверхность. 1991. № 3. С. 93.
- Применение электронной спектроскопии для анализа поверхности. Пер. с англ. / Ред. Шварц К.К. Рига: Знание, 1980. 315 с.
- Михайлов Г.М., Бородько Ю.Г. // Поверхность. 1982. № 2. С. 85.
- Бриггс Д., Сих Н.П. Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. М.: Мир, 1987. 598 с.
- Захватова М.В., Гильмутдинов Ф.3., Сурнин Д.В. // Физика металлов и металловедение. 2007. Т. 104, № 2. С. 166.
- Наркевич Н.А., Гальченко Н.К., Миронов Ю.П. // Физическая мезомеханика. 2004. № 6. С. 79.
- Программа моделирования и вычитания фона AAnalyzer. Электронный ресурс http://rdataa.com/aanalyzer/aanaManual-BO.htm.
- Citrin P.H. // Phys. Rev. Lett. 1973. V. 31. № 19. P. 1164.
- Yin L.I., Tsang T., Coyle G.J., Yin W., Adler I. // J. Vacuum Sci. Technol. 1983. V. 1. Iss. 2. P. 1000. https://www.doi.org/10.1116/1.572323
- Гребенников В.И., Кузнецовa Т.В. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед. 2020. № 5. С. 68.
- Фелдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок. Пер. с англ. М.: Мир, 1989.
- Laurence E. Davis, Noel C. MacDonald, Paul W. Palmberg, Gerald E. Riach, Roland E. Weber. Handbook of Auger Electron Spectroscopy. Physical Electronics. 1976. Р. 253.
- Шульга Ю.М., Рубцов В.И., Бородько Ю.Г. // Поверхность. 1987. № 8. С. 43-50.
Дополнительные файлы
