Electrical characteristics of ruthenium lines with a cross-sectional area less than 1000 nm²

Мұқаба

Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

As the IC scales, it becomes necessary to form lines with a width of less than 20 nm at the lower levels of the metallization system. Copper at such sizes ceases to meet the requirements for RC delays and resistance to electromigration. Therefore, it is necessary to look for alternative materials to replace copper, which will provide higher resistance to electromigration and lower resistance of the lines. The most promising candidate is Ru. In this study, test structures with ruthenium lines were obtained. For this purpose, such methods of creating structures as plasma-stimulated deposition from the gas phase, plasma-stimulated atomic layer deposition, magnetron sputtering, electron beam lithography, and plasma chemical etching were used. Spectroscopic ellipsometry and scanning electron microscopy were used to control the creation and investigation of the resulting structures. The electrical characteristics of the structures were measured and tested.

Авторлар туралы

O. Glaz

National Research Center 'Kurchatov Institute' – Valiev Institute of Physics and Technology of Russian Academy of Sciences; Department of Physics and Technologies of Electrical Materials and Components, National Research University 'MPEI'

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: glaz@ftian.ru
Moscow, Russia; Moscow, Russia

A. Rogozhin

National Research Center 'Kurchatov Institute' – Valiev Institute of Physics and Technology of Russian Academy of Sciences

Email: rogozhin@ftian.ru
Moscow, Russia

Әдебиет тізімі

  1. Kapur P., McVittie J.P., Saraswat K.C. Technology and reliability constrained future copper interconnects. I. Resistance modeling // IEEE Transactions on Electron Devices. – 2002. – Т. 49. – № 4. – С. 590–597.
  2. Gall D. The search for the most conductive metal for narrow interconnect lines // Journal of Applied Physics. – 2020. – Т. 127. – № 5.
  3. Kamineni V., Raymond M., Siddiqui S., Mont F., Tsai S., Niu C., L’Herron B. IEEE International Interconnect Technology Conference / Advanced Metallization Conference (IITC, AMC) // IEEE International Interconnect Technology Conference IITC. – Ieee, 2016. – С. 105.
  4. Wen L.G., Cui Y., Kuwahara Y., Mori K., Yamashita H. Atomic layer deposition of ruthenium with TiN interface for sub-10 nm advanced interconnects beyond copper // ACS applied materials & interfaces. – 2016. – Т. 8. – № 39. – С. 26119–26125.
  5. Fan S.S.C., Chen J.H.C., Kamineni V.K., Zhang X., Raymond M., and Labelle C. IEEE International Interconnect Technology Conference (IITC) // IEEE. – 2017. – Т. 2017. – С. 1–3.
  6. Nogami T., Patlolla R., Kelly J., Briggs B., Huang H., Demarest J., Paruchuri V. Cobalt/copper composite interconnects for line resistance reduction in both fine and wide lines // 2017 IEEE International Interconnect Technology Conference (IITC). – IEEE, 2017. – С. 1–3.
  7. Wan D., Paolillo S., Rassoul N., Kotowska B.K., Blanco V., Adelmann C., Lazzarino F., Ercken M. Subtractive etch of ruthenium for sub-5nm interconnect // 2018 IEEE International Interconnect Technology Conference (IITC). – IEEE, 2018. – С. 10–12.
  8. Van der Veen M.H., Heylen N., Varela Pedreira O., Ciofi I., Decoster S., Gonzalez V. Vega, Jourdan N., Struyf H., Croes K., Wilson C.J., Tőkei Zs. Damascene benchmark of Ru, Co and Cu in scaled dimensions // 2018 IEEE International Interconnect Technology Conference (IITC). – IEEE, 2018. – С. 172–174.

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Russian Academy of Sciences, 2025

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».