Пороговые значения параметров электронного облучения стекла, приводящего к электростатическим разрядам

Обложка
  • Авторы: Хасаншин Р.Х.1,2, Уваров Д.В.1
  • Учреждения:
    1. Акционерное общество “Композит”
    2. Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования “Московский государственный технический университет им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет)”
  • Выпуск: Том 88, № 4 (2024)
  • Страницы: 538-548
  • Раздел: Взаимодействие ионов с поверхностью
  • URL: https://bakhtiniada.ru/0367-6765/article/view/271423
  • DOI: https://doi.org/10.31857/S0367676524040032
  • EDN: https://elibrary.ru/QISROM
  • ID: 271423

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Представлены экспериментальные данные о минимальных значениях энергий и плотностей потоков электронов, воздействие которых на покровные стекла солнечных батарей и отражающие элементы терморадиаторов искусственных спутников Земли приводит к электростатическим разрядам. Установлено, что добавление протонов в состав воздействующего на исследованные образцы потока частиц подавляет развитие разрядов. Для качественной интерпретации полученных результатов предложена математическая модель.

Об авторах

Р. Х. Хасаншин

Акционерное общество “Композит”; Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования “Московский государственный технический университет им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет)”

Автор, ответственный за переписку.
Email: rhkhas@mail.ru
Россия, Королев; Москва

Д. В. Уваров

Акционерное общество “Композит”

Email: rhkhas@mail.ru
Россия, Королев

Список литературы

  1. Ferguson D.C., Wimberly S.C. // Proc. 50th AIAA Aerospace Sci. Mtg. (Nashville, 2013) Art. No. 0810.
  2. Новиков Л.С. Модель космоса. Научно-информационное издание. Т. 2. М.: КДУ, 2007. 1144 с.
  3. Kazuhiro Toyoda, Teppei Okumura, Satoshi Hosoda, Mengu Cho // J. Spacecr. Rockets. 2005. V. 42. No. 5. P. 947.
  4. Хасаншин Р.Х., Применко Д.А. // Изв. РАН. Сер. физ. 2022. Т. 86. № 5. С. 633; Khasanshin R.H., Primenko D.A. // Bull. Russ. Acad. Sci. Phys. 2022. V. 86. No. 5. P. 526.
  5. Kadono K., Itakura N., Akai T. et al. // J. Phys. Cond. Matter. 2010. V. 22. No. 4. Art. No. 045901.
  6. Бреховских С.М., Викторова Ю.Н., Ланда Л.М. Радиационные эффекты в стеклах. М.: Энергоиздат, 1982. 182 с.
  7. Fu X., Song L., Jiacheng, Li J. // J. Rare Earths. 2014. V. 32. No. 11. P. 1037.
  8. Kreidl N., Hensler J. // J. Amer. Ceram. Soc. 2006. V. 38. P. 423.
  9. Roussel J.-F., Alet I., Faye D., Pereira A. // J. Spacecraft. Rockets. 2004. V. 41. No. 5. P. 812.
  10. Zhao Xiaohu, Shen Zhigang, Xing Yushan, Ma Shulin // J. Acta Aeronaut. Astronaut. Sci. 2009. V. 30. No. 1. P. 159.
  11. Хасаншин Р.Х., Новиков Л.С. // Персп. матер. 2021. № 10. С. 5; Khasanshin R.H., Novikov L.S. // Inorg. Mater. Appl. Res. 2022. V. 13. No. 2. P. 326.
  12. Fakhfakh S., Jbara O., Belhaj M. et al. // J. Appl. Phys. 2008. V. 104. Art. No. 093704.
  13. Hanna R., Paulmier T., Belhaj M., et al. // J. Physics D. 2011. V. 44. Art. No. 445402.
  14. Guerch K., Paulmier T., Guillemet-Fritsch S., Lenormand P. // Nucl. Instr. Meth. B. 2015. V. 349. P. 147.
  15. Miyake H., Tanaka Y., Takada T., Liu R. // IEEE Trans. Dielec. Elect. Insul. 2007. V. 14. No. 2. P. 520.
  16. Khasanshin R.H., Novikov L.S. // Adv. Space Res. 2016. V. 57. P. 2187.
  17. Koons C., Mazur J.E., Selesnick R.S. et al.// Proc. 6th Spacecraft Charging Technol. Conf. (Hanscom, 1998). P. 7.
  18. Ollier N., Rizza G., Boizot B., Petite G. // J. Appl. Phys. 2006. V. 99. Art. No. 073511.
  19. Ollier N., Boizot B., Reynard B., et al. // J. Nucl. Mater. 2005. V. 340. P. 209.
  20. Хасаншин Р.Х. Новиков Л.С. // Персп. матер. 2020. № 11. С. 5; Khasanshin R.H., Novikov L.S. // Inorg. Mater. Appl. Res. 2021. V. 12. No. 2. P. 313
  21. Boizot B., Petite G., Ghaleb D. et al. // Nucl. Instr. Meth. B. 2000. V. 166–167. P. 500.
  22. Boizot B., Petite G., Ghaleb D., Calas G. // J. Non-Cryst. Solids. 2001. V. 283. P. 179.
  23. Хасаншин Р.Х., Новиков Л.С., Гаценко Л.С., Волкова Я.Б. // Персп. матер. 2015. № 1. С. 22; Khasanshin R.H., Novikov L.S., Gatsenko L.S., Volkova Ya.B. // Inorg. Mater. Appl. Res. 2015. V. 6. No. 5. P. 438.
  24. Хасаншин Р.Х., Новиков Л.С. // Поверхность. Рентген. синхротр. и нейтрон. исслед.2018. № 11. С. 48; Khasanshin R.H., Novikov L.S. // J. Surf. Invest. X-ray, Synchrotron Neutron Tech. 2018. V. 12. No. 6. P. 1088.
  25. Свечкин В.П., Савельев А.А., Соколова С.П., Бороздина О.В. // Космич. техн. и технологии. 2017. № 2. С. 99; Svechkin V.P., Savelyev A.A., Sokolova S.P., Borozdina O.V. // Space Tech. Technol. 2017. No. 2. P. 99.
  26. Хасаншин Р.Х., Новиков Л.С. // Персп. матер. 2023. № 1. С. 19; Khasanshin R.H., Novikov L.S. // Inorg. Mater. Appl. Res. 2023, V. 14. No. 5. P. 1207.
  27. Hai-Bo Z., Wei-Qin L., Meng C. // Chin. Phys. Lett. 2012. V. 29. No. 4. Art. No. 047901.
  28. Li W.-Q., Zhang H.-B. // Appl. Surf. Sci. 2010. V. 256. No. 11. P. 3482.
  29. Zhang H.-B., Li W.-Q., Cao M. // J. Electron Microsc. 2012. V. 61. P. 85.
  30. Raftari B., Budko N.V., Vuik C. // J. Appl Phys. 2015. V. 118. P. 204101.
  31. Markowich P.A., Ringhofer C., Schmeiser C. Semiconductor equations. N.Y.: Springer-Verlag Inc., 1990.
  32. Ильин В.П. Численные методы решения задач электрофизики. М.: Наука, 1985. 333 с.
  33. Михеев Н.Н., Степович М.А., Широкова Е.В. // Изв. РАН. Сер. физ. 2010. Т. 74. № 7. С. 1043; Mikheev N.N., Stepovich M.A., Shirokova E.V. // Bull. Russ. Acad. Sci. Phys. 2010. V. 74. No. 7. P. 1002.
  34. Михеев Н.Н., Степович М.А., Широкова Е.В. // Изв. РАН. Сер. физ. 2012. Т. 76. № 9. С. 1086; Mikheev N.N., Stepovich M.A., Shirokova E.V. // Bull. Russ. Acad. Sci. Phys. 2012. V. 76. No. 9. P. 974.
  35. Желтоножская М.В., Лыкова Е.Н., Черняев А.П., Яценко В.Н. // Изв. РАН. Сер. физ. 2019. Т. 83. № 7. С. 1003; Zheltonozhskaya M.V., Lykova E.N., Iatsenko V.N. // Bull. Russ. Acad. Sci. Phys. 2019. V. 83. No.7. P. 915.
  36. Валиев Д.Т., Степанов С.А., Yao G., Zhou Y. // ФТТ. 2019. Т. 61. № 10. С. 1879; Valiev D.T., Stepanov S.A., Yao G., Zhou Y. // Phys. Solid State. 2019. V. 61. No. 10. P. 1835.
  37. Nguyen H.-D., Wulfkühler J.-P., Tajmar M. // J. Vac. Sci. Technol. B. 2023. V. 41. No. 3. Art. No. 034203.

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
Скачать

© Российская академия наук, 2024

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».