The energy position of size quantization levels in multiple HgCdTe quantum wells

封面

如何引用文章

全文:

开放存取 开放存取
受限制的访问 ##reader.subscriptionAccessGranted##
受限制的访问 订阅存取

详细

The energy position of size quantization levels size levels in the multiple Hg0.3Cd0.7Te/HgTe quantum wells grown by molecular beam epitaxy on (013)GaAs substrate has been studied. The experimental and calculated values of the energy position of three size quantization levels are obtained.

作者简介

N. Mikhailov

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics of the Siberian Branch of the Russian Academy
of Sciences

编辑信件的主要联系方式.
Email: mikhailov@isp.nsc.ru
Russia, 630090, Novosibirsk

V. Remesnik

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics of the Siberian Branch of the Russian Academy
of Sciences

Email: mikhailov@isp.nsc.ru
Russia, 630090, Novosibirsk

V. Aleshkin

Institute for Physics of Microstructures of the Russian Academy of Sciences

Email: mikhailov@isp.nsc.ru
Russia, 603950, Nizhny Novgorod

S. Dvoretsky

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics of the Siberian Branch of the Russian Academy
of Sciences

Email: mikhailov@isp.nsc.ru
Russia, 630090, Novosibirsk

I. Uzhakov

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics of the Siberian Branch of the Russian Academy
of Sciences

Email: mikhailov@isp.nsc.ru
Russia, 630090, Novosibirsk

V. Shvets

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics of the Siberian Branch of the Russian Academy
of Sciences; Novosibirsk State University

Email: mikhailov@isp.nsc.ru
Russia, 630090, Novosibirsk; Russia, 630090, Novosibirsk

参考

  1. Lei W., Antoszewski J., Faraone L. // Appl. Phys. Rev. 2015. V. 2. Art. No. 041303.
  2. Bhan R.K., Dhar V. // Opto-Electron. Rev. 2019. V. 27. No. 2. P. 174.
  3. Rogalski A. // Rep. Prog. Phys. 2005. V. 68. No. 10. P. 2267.
  4. Capper P., Garland J. Mercury cadmium telluride. Growth, properties and applications. Chichester: John Wiley & Sons Ltd, 2011. P. 556.
  5. Erdem Arkun F., Edwall D.D., Ellsworth J. et al. // J. Electron. Mater. 2017. V. 46. No. 9. P. 5374.
  6. Reddy M., Peterson J.M., Vang T. et al. // J. Electron. Mater. 2011. V. 40. No. 8. P. 1706.
  7. Ziegler J., Wenisch J., Breiter R. et al. // J. Electron. Mater. 2014. V. 43. No. 8. P. 2935.
  8. Варавин В.С., Дворецкий С.А., Михайлов Н.Н. и др. // Автометрия. Т. 56. № 5. С. 12; Varavin V.S., Dvoretskii S.A., Mikhailov N.N. et al. // Optoelectron. Instrum. Data Process. 2020. V. 56. No. 5. P. 456.
  9. Schulman J.N., McGill T.C. // Appl. Phys. Lett. 1979. V. 34. No. 10. P. 663.
  10. Aleshkin V.Y., Dubinov A.A., Morozov S.V. et al. // Opt. Mater. Express. 2018. V. 8. No. 5. P. 1349.
  11. Ryzhii M., Otsuji T., Ryzhii V. et al. // Opto-Electron. Rev. 2019. V. 27. No. 2. P. 219.
  12. Zhou Y.D., Becker C.R., Selamet Y. et al. // J. Electron. Mater. 2003. V. 32. No. 7. P. 608.
  13. Grein C.H., Jung H., Singh R. et al. // J. Electron. Mater. 2005. V. 34. No. 6. P. 905.
  14. Becker C.R., Latussek V., Pfeuffer-Jeschke A. et al. // Phys. Rev. B. V. 62. No. 15. Art. No. 10353.
  15. Михайлов Н.Н., Швец В.А., Дворецкий С.А. и др. // Автометрия. 2003. Т. 39. № 2. С. 71.
  16. Mikhailov N.N., Smirnov R.N., Dvoretsky S.A. et al. // Int. J. Nanotechnol. 2006. V. 3. No. 1. P. 120.
  17. Сидоров Ю.Г., Дворецкий С.А., Михайлов Н.Н. и др. // Опт. журн. 2000. Т. 67. № 1. С. 39; Sidorov Yu.G., Dvoretski S.A., Mikhailov N.N. et al. // J. Opt. Technol. 2000. V. 67. No. 1. P. 31.
  18. Сидоров Ю.Г., Дворецкий С.А., Варавин В.С. и др. // ФТП. 2001. Т. 35. № 9. С. 1092; Sidorov Yu.G., Dvoretskii S.A., Varavin V.S. et al. // Semiconductors. 2001. V. 35. No. 9. P. 1045.
  19. Спесивцев Е.В., Рыхлицкий С.В., Швец В.А. // Автометрия. 2011. Т. 47. № 5. С. 5; Spesivtsev E.V., Rykhlitskii S.V., Shvets V.A. // Optoelectron. Instrument. Proс. 2011. V. 47. No. 5. P. 419.
  20. Ржанов А.В., Свиташев К.К., Мардежов А.С., Швец В.А. // ДАН. 1987. Т. 297. № 3. С. 604.
  21. Dvoretsky S., Mikhailov N., Sidorov Yu. et al. // J. Electron. Mater. V. 39. No. 7. P. 918.
  22. Швец В.А., Михайлов Н.Н., Икусов Д.Г. и др. // Опт. и спектроск. 2019. Т. 127. № 8. С. 318; Shvets V.A., Mikhailov N.N., Ikusov D.G. et al. // Opt. Spectrosс. 2019. V. 127. No. 2. P. 340.
  23. Швец В.А. // Опт. и спектроск. 2009. Т. 107. № 5. С. 822; Shvets V.A. // Opt. Spectrosс. 2009. V. 107. P. 780.
  24. Швец В.А., Азаров И.А., Спесивцев Е.В. и др. // ПТЭ. 2016. № 6. С. 87; Shvets V.A., Azarov I.A., Spesivtsev E.V. et al. // Instrum. Exp. Tech. 2016. V. 59. No. 6. P. 857.
  25. Zholudev M., Teppe F., Orlita M. et al. // Phys. Rev. B. 2012. V. 86. Art. No. 205420.
  26. Pfeuffer-Jeschke A. PhD thesis. Germany: Universität Würzburg. Physikalisches Institut. 2000.
  27. Minkov G.M., Aleshkin V.Ya., Rut O.E. et al. // Phys. Rev. B. 2017. V. 96. Art. No. 035310.
  28. Novik E.G., Pfeuffer-Jeschke A., Jungwirth T. et al. // Phys. Rev. B. 2005. V. 72. Art. No. 035321.
  29. Takita K., Onabe K., Tanaka S. // Phys. Stat. Sol. B. 1979. V. 92. P. 297.
  30. Иконников А.В., Бовкун Л.С., Румянцев В.В. и др. // ФТП. 2017. Т. 51. № 12. С. 1588; Ikonnikov A.V., Bovkun L.S., Rumyantsev V.V. et al. // Semiconductors. 2017. V. 51. No. 12. P. 1531.

补充文件

附件文件
动作
1. JATS XML
2.

下载 (105KB)
3.

下载 (149KB)
4.

下载 (115KB)
5.

下载 (122KB)
6.

下载 (81KB)
7.

下载 (103KB)

版权所有 © Н.Н. Михайлов, В.Г. Ремесник, В.Я. Алешкин, С.А. Дворецкий, И.Н. Ужаков, В.А. Швец, 2023

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».