Вклад состояний на интерфейсах в терагерцовую фотопроводимость в структурах на основе Hg1 – xCdxTe с инверсным спектром

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Экспериментально выявлены различия электронных состояний в топологических материалах на основе эпитаксиальных пленок Hg1 – xCdxTe, с необходимостью формирующихся на границах топологической фазы с вакуумом и с тривиальным буфером в областях гетероперехода. Было продемонстрировано, что наблюдаемая в указанных структурах PT-симметричная терагерцовая фотопроводимость обусловлена именно состояниями в области интерфейсов топологическая пленка/тривиальный буфер (или покровный слой).

Об авторах

А. С. Казаков

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования
“Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова”, Физический факультет

Автор, ответственный за переписку.
Email: askazakov@physics.msu.ru
Россия, Москва

Л. И. Рябова

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования
“Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова”, Химический факультет

Email: askazakov@physics.msu.ru
Россия, Москва

С. Н. Данилов

Университет Регенсбурга

Email: askazakov@physics.msu.ru
Германия, Регенсбург

М. И. Банников

Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
Физический институт имени П.Н. Лебедева Российской академии наук

Email: askazakov@physics.msu.ru
Россия, Москва

Н. Н. Михайлов

Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
“Институт физики полупроводников имени А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук”

Email: askazakov@physics.msu.ru
Россия, Новосибирск

С. А. Дворецкий

Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
“Институт физики полупроводников имени А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук”

Email: askazakov@physics.msu.ru
Россия, Новосибирск

С. Н. Чмырь

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования
“Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова”, Физический факультет

Email: askazakov@physics.msu.ru
Россия, Москва

А. В. Иконников

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования
“Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова”, Физический факультет

Email: askazakov@physics.msu.ru
Россия, Москва

А. И. Артамкин

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования
“Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова”, Физический факультет

Email: askazakov@physics.msu.ru
Россия, Москва

А. В. Галеева

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования
“Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова”, Физический факультет

Email: askazakov@physics.msu.ru
Россия, Москва

Д. Р. Хохлов

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования
“Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова”, Физический факультет; Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
Физический институт имени П.Н. Лебедева Российской академии наук

Email: askazakov@physics.msu.ru
Россия, Москва; Россия, Москва

Список литературы

  1. Hasan M.Z., Kane C.L. // Rev. Mod. Phys. 2010. V. 82. P. 3045.
  2. Волков Б.А., Панкратов О.А. // Письма в ЖЭТФ. 1985. Т. 42. № 4. С. 145; Volkov B.A., Pankratov O.A.// JETP Lett. 1985. V. 42. No. 4. P. 145.
  3. Volkov B.A., Pakhomov S.V., Pankratov O.A. // Solid State Commun. 1987. V. 61. No. 2. P. 93.
  4. Brüne C., Liu C.X., Novik E.G. et al. // Phys. Rev. Lett. 2011. V. 106. Art. No. 126803.
  5. Liu C., Bian G., Chang T.R. et al. // Phys. Rev. B. 2015. V. 92. Art. No. 115436.
  6. Rogalski A. // Rep. Prog. Phys. 2005. V. 68. P. 2267.
  7. Weiler M. Semiconductors and semimetals. New York: Academic press, 1981. P. 119.
  8. Orlita M., Basko D.M., Zholudev M.S. et al. // Nature Physics. 2014. V. 10. P. 233.
  9. Teppe F., Marcinkiewicz M., Krishtopenko S.S. et al. // Nature Commun. 2016. V. 7. Art. No. 12576.
  10. Dvoretsky S., Mikhailov N., Sidorov Y. et al. // J. Electron. Mater. 2010. V. 39. P. 918.
  11. Varavin V.S., Dvoretsky S.A., Liberman V.I. et al. // J. Cryst. Growth. 1996. V. 159. P. 1161.
  12. Ruffenach S., Kadykov A., Rumyantsev V.V. et al. // APL Materials. 2017. V. 5. No. 3. Art. No. 035503.
  13. Kvon Z.D., Danilov S.N., Mikhailov N.N. et al. // Physica E. 2008. V. 40. No. 6. P. 1885.
  14. Savchenko M.L., Otteneder M., Dmitriev I.A. et al. // Appl. Phys. Lett. 2020. V. 117. Art. No. 201103.
  15. Ярошевич А.С., Квон З.Д., Гусев Г.М., Михайлов Н.Н. // Письма в ЖЭТФ. 2020. Т. 111. № 2. С. 107; Yaroshevich A.S., Kvon Z.D., Gusev G.M., Mikhailov N.N. // JETP Lett. 2020. V. 111. No. 2. P. 121.
  16. Галеева А.В., Артамкин А.И., Михайлов Н.Н. и др. // Письма в ЖЭТФ. 2017. Т. 106. № 3. С. 156; Galeeva A.V., Artamkin A.I., Mikhailov N.N. et al. // JETP Lett. 2017. V. 106. P. 162.
  17. Galeeva A.V., Artamkin A.I., Kazakov A.S. et al. // Beilsten J. Nanotechnol. 2018. V. 9. P. 1035.
  18. Galeeva A.V., Kazakov A.S. Artamkin A.I. et al. // Sci. Reports. 2020. V. 10. P. 2377.
  19. Ганичев С.Д., Емельянов С.А., Ярошецкий И.Д. // Письма ЖЭТФ. 1982. Т. 35. № 7. С. 297; Ganichev S.D., Emel’yanov S.A., Yaroshetskii I.D. // JETP Lett. 1982. V. 35. P. 368.
  20. Bel’kov V.V. Ganichev S.D., Schneider P. et al. // Solid. State. Commun. 2003. V. 128. P. 283.
  21. Kazakov A.S., Galeeva A.V., Artamkin A.I. et al. // Sci. Reports. 2021. V. 11. P. 1587.

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
2.

Скачать (274KB)
3.

Скачать (388KB)
4.

Скачать (641KB)
5.

Скачать (92KB)

© А.С. Казаков, А.В. Галеева, А.И. Артамкин, А.В. Иконников, С.Н. Чмырь, С.А. Дворецкий, Н.Н. Михайлов, М.И. Банников, С.Н. Данилов, Л.И. Рябова, Д.Р. Хохлов, 2023

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».