НЕРАЗРУШАЮЩАЯ МЕТОДИКА ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВНУТРЕННИХ ДЕФЕКТОВ В КРЕМНИЕВЫХ МИШЕНЯХ ВИДИКОНОВ
- Авторы: Давыдов В.В.1,2, Соколова А.А.3, Андреева В.Д.1, Котов С.А.1, Ганин С.В.1, Ким А.Э.1
-
Учреждения:
- Санкт-Петербургский Политехнический университет Петра Великого
- Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ»
- АО Центральный научно-исследовательский институт «Электрон»
- Выпуск: № 1 (2026)
- Страницы: 49-62
- Раздел: Оптические методы
- URL: https://bakhtiniada.ru/0130-3082/article/view/315981
- DOI: https://doi.org/10.7868/S3034498026010049
- ID: 315981
Цитировать
Аннотация
Обоснована необходимость разработки новых методик для неразрушающего контроля структуры кремниевых мишеней и выявления в них внутренних дефектов. Установлено, что ряд внутренних дефектов используемыми методами контроля мишеней не идентифицируются (эти дефекты проявляются только при эксплуатации видикона). Для мишеней проведено исследование структуры подложки и сформированной топологии, а также поверхности фоточувствительных элементов с использованием рентгеновской дифрактометрии и разработанного оптического микроскопа с формированием дифракционного изображения. Установлена деформация подложки, что привело к формированию механических напряжений с увеличением концентрации центров генерации носителей заряда. Обнаружено существенное нарушение ориентации (111) в структуре Si-подложки мишени. Получен новый результат, объясняющий формирование белой засветки на регистрируемых изображениях при проверке видикона, и установлены две причины формирования внутреннего дефекта в мишени, которые привели к ее появлению. Таковыми являются: неравномерное воздействие по краям мишени при запрессовке ее на индиевое кольцо и неравномерное нанесение слоев при изготовлении ее структуры. Разработана новая неразрушающая методика контроля кремниевых мишеней для выявления данного внутреннего дефекта и других дефектов в процессе их изготовления до установки в видикон. Предложен ряд мер по устранению данных дефектов при реализации технологического процесса
Об авторах
Вадим Владимирович Давыдов
Санкт-Петербургский Политехнический университет Петра Великого; Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ»
Автор, ответственный за переписку.
Email: davydov_vadim66@mail.ru
ORCID iD: 0000-0001-9530-4805
SPIN-код: 7618-4840
Scopus Author ID: 7201851532
ResearcherId: F-1794-2016
д.ф.-м.н., профессор, ИММиТ
Россия, 195251 Санкт-Петербург, ул. Политехническая, 29; 197022 Санкт-Петербург, ул. Профессора Попова, 5Анастасия Андреевна Соколова
АО Центральный научно-исследовательский институт «Электрон»
Email: nansokol@list.ru
Россия, 194223 Санкт-Петербург, пр-т Тореза, 68
Валентина Дмитриевна Андреева
Санкт-Петербургский Политехнический университет Петра Великого
Email: avd2007@bk.ru
Россия, 195251 Санкт-Петербург, ул. Политехническая, 29
Сергей Анатольевич Котов
Санкт-Петербургский Политехнический университет Петра Великого
Email: serkotov51@mail.ru
Россия, 195251 Санкт-Петербург, ул. Политехническая, 29
Сергей Владимирович Ганин
Санкт-Петербургский Политехнический университет Петра Великого
Email: s.v.ganin@gmail.com
Россия, 195251 Санкт-Петербург, ул. Политехническая, 29
Артем Эдуардович Ким
Санкт-Петербургский Политехнический университет Петра Великого
Email: artem_7.kim@mail.ru
Россия, 195251 Санкт-Петербург, ул. Политехническая, 29
Список литературы
- Xu Q., Hill A., Zhang H.D., Roncarolo F., Trad G. Estimation of beam transverse parameters through a multimode fiber using deep learning // Proceedings of the International Beam Instrumentation Conference Ibic. 2024. P. 170—173.
- Picollo M., Cucci C., Casini A., Stefani L. Hyper-spectral imaging technique in the cultural heritage field: New possible scenarios // Sensors. 2020. V. 20. No. 10. P. 2843.
- Kolesnikova D.V. Image processing system for vidicon-based radiation-resistant cameras // Proceedings of SPIE the International Society for Optical Engineering. 2020. V. 1135311. P. 11353.
- Zaynobidinov S., Babakhodzhayev U., Nabiyev A., Sharibayev N.Y. The mechanism of hole transport in photocells based on A-Si: H // International Journal of Scientific and Technology Research. 2020. V. 9. No. 1. P. 2589—2593.
- Thompson S.M. Dancing lights the use of television cameras to measure and study aurorae // Journal of Astronomical History and Heritage. 2024. V. 27. No. 4. P. 859—870.
- Сен В., Синь Х., Бин В., Тао П., Чибу Б. Неразрушающее обнаружение механических повреждений в яблоках с помощью импульсной инфракрасной термографии // Дефектоскопия. 2025. № 5. С. 51—61.
- Ding W., Ma Y., Zhang J. Remote monitoring and control system for aquarium based on mobile communication platform // IFIP Advances in Information and Communication Technology. 2019. V. 545. P. 462—467.
- Давыдов В.В., Порфирьева Е.В., Давыдов Р.В. Неразрушающий метод контроля эластичности стенок вен и артерий человека // Дефектоскопия. 2022. № 9. С. 56—67.
- Tanioka K., Ando T., Sugawara M. Camera technology / Handbook of Optoelectronics. Second Edition. Enabling Technologies. 2017. V. 2. P. 97—112.
- Kovtonyuk N.F., Misnik V.P., Sokolov A.V., Tumanov V.L. Photosensitivity of vidicons with semiconductor-on-insulator-based phototargets // Journal of Communications Technology and Electronics. 2005. V. 50. No. 12. P. 1409—1412.
- Basak S., Ferrone F.A. Numerical linearization of a silicon intensified target vidicon response // Review of Scientific Instruments. 1988. V. 59. No. 8. P. 1423—1425.
- Matsuura H. Hydrogenated Amorphous-Silicon/Crystalline-Silicon Heterojunctions: Properties and Applications // IEEE Transactions on Electron Devices. 1989. V. 36. No. 12. P. 2908—2914.
- Uchida Teruo, Itoh Seiji, Coleman David M., Minami Shigeo. Corrected performance of SIT vidicons exposed to transient radiation // Applied Spectroscopy. 1990. V. 44. No. 3. P. 391–396.
- Zhao Y., Wang H., Zhang Q., Xie Y., Yang J. A study of landslide deformation field with digital correlation method // Chinese Science Bulletin. 2016. V. 61. No. 28—29. P. 3163—3171.
- Thorpe L.J. The SMPTE Century: Evolution in Cameras and Lenses from 1916 to 2016 // SMPTE Motion Imaging Journal. 2016. V. 125. No. 6. P. 41—48.
- Iureva R.A., Maltseva N.K., Dunaev V.I. Formation of the color image based on the vidicon TV camera // Proceedings of SPIE the International Society for Optical Engineering. 2016. V. 9947. P. 99470M.
- Zhang B.-P., Han S. A research of Vidicon Acquiring Image Adaptive Control System Based on locomotor Vehicle // Proceedings 2nd IEEE International Conference on Advanced Computer Control Icacc 2010. 2010. V. 5487150. P. 484—487.
- Zhou Y., Sun H., Gao S., Niu S. Videometrics-based Detection of Vibration Linearity in MEMS Gyroscope // International Journal of Computational Intelligence Systems. 2011. V. 4. No. 3. P. 321—328.
- Batra A.K., Edwards M.E., Guggilla P., Aggarwal M.D., Lal R.B. Pyroelectric properties of PVDF:MWCNT nanocomposite film for uncooled infrared detectors and medical applications // Integrated Ferroelectrics. 2014. V. 158. No. 1. P. 98—107.
- Wang J., Ao Q., Ma J., Chen X., Jiang L. Quasi-static compressive performance of porous stainless steel fiber materials // Journal of Functional Materials. 2018. V. 49. No. 9. P. 9107—9114.
- Samoylov V.B., Shchedrina L.V. Cyclostationary mode of pyroelectric sensor // Sensors and Actuators A Physical. 2018. V. 282. P. 142—148.
- Dan J.-Q., Ma G.-H., Jiang S.-P., Han L.-B. Research on the real-time location of the battlefield target reconnaissance based on the single-vidicon // Optical Technique. 2008. V. 34. No. 1. P. 100—104.
- Shao L., Yang D., Li B., Li K., Lian X. Development of acoustic vidicon based on binocular vision and microphone array // Journal of Scientific Instrument. 2009. V. 30. No. 4. P. 823—827.
- Kavandi J., Callis J., Gouterman M., Burns D., McLachlan B. Luminescent barometry in wind tunnels // Review of Scientific Instruments. 1990. V. 61. No. 11. P. 3340—3347.
- Liu Y., Zhang J., Dai S. CCD vidicon image processing simulation // Journal of Beijing University of Aeronautics and Astronautics. 2009. V. 35. No. 12. P. 1455—1458.
- Shahriar A.N.M., Hyde R., Hayman S. Wide-angle image analysis for sky luminance measurement // Architectural Science Review. 2009. V. 52. No. 3. P. 211–220.
- Schauer F., JedličKa M., KočKa J. Beam Profiling Characteristics of a Sensitivity-Enhanced Silicon Vidicon System at 1.06 Microns // ASTM Special Technical Publication. 1988. V. STP 1015. P. 44—52.
- Mimura H., Hatanaka Y. Optoelectrical properties of amorphous-crystalline silicon heterojunctions // Applied Physics Letters. 1984. V. 45. No. 4. P. 452—454.
- Hofstein S.R. A Silicon Vidicon Target with Electronically Variable Light Sensitivity and Spectral Response // IEEE Transactions on Electron Devices. 1968. V. 15. No. 12. P. 1018—1023.
- Увин Д.С., Кутергин А.В., Черосов М.А., Спирин К.Е., Василенко О.Н., Батулин Р.Г. Неразрушающая дефектоскопия масс-спектрометрическим методом сосуда дьюара РРМS-9 // Дефектоскопия. 2025. № 9. С. 69—78.
- Daveri A., Vagnini M., Nucera F., Romani A., Clementi C. Visible-induced luminescence imaging: A user-friendly method based on a system of interchangeable and tunable LED light sources // Microchemical Journal. 2016. V. 125. P. 130—141.
- Ширшин А.В., Федоров А.В., Железняк И.С., Пелешок С.А. Применение текстурной фильтрации при кластеризации данных рентгеновской компьютерной томографии изделий полимерных композиционных материалов // Дефектоскопия. 2025. № 5. С. 62—67.
- Bozhenko V., Kondratov P., Shkljarskij V. Thermovision camera with discrete reversal scanning of PEMET vidicon target // Proceedings of the International Conference 2008 Modern Problems of Radio Engineering Telecommunications and Computer Science. 2008. V. 54235366. P. 242—243.
- Taylor P.C. World scientific reference of amorphous materials, the: Structure, properties, modeling and main applications (in 3 volumes). 2020. 472 p.
- Wang S.-Y., Zhuo L., Shen L.-S., Li X.-G. A simple and effective video sequence super-resolution algorithm // Journal of Beijing University of Technology. 2009. V. 35. No. 6. P. 742—747.
- Tang Q., Fang B., Gu Z., Вавилов В.П., Чулков А.О., Xu G., Wang, Z., Bu H. Тепловой контроль микротрещин в полупроводниковых кремниевых пластинах методом лазерного сканирования с использованием сегментации термограмм // Дефектоскопия. 2025. № 4. С. 52—68.
- Gregorkiewitz M., Boschetti A. Lattice symmetry relaxation as a cause for anisotropic line broadening and peak shift in powder diffraction // Acta Crystallographica Section A Foundations and Advances. 2024. V. 80. P. 439–445.
- Кищин И.А., Киданова Е.Ю., Кубанкин А.С., Сотникова В.С. Методика контроля качества конструкционных элементов из легких материалов на основе мягкого рентгеновского излучения // Дефектоскопия. 2023. № 10. С. 43—52.
- Давыдов В.В., Мязин Н.С., Давыдова Т.И. Неразрушающий метод экспресс-контроля состояния конденсированных сред для экологического мониторинга // Дефектоскопия. 2017. № 7. С. 52—61.
- Shevchenko D.V., Provodin D.S., Davydov V.V. Development of a compact high-resoluyion digital microscope for the research of micro and nanostructures // St. Petersburg State Polytechnical University Journal. Physics and Mathematics. 2023. V. 16. No. S3.1. P. 396—401.
- Zayed M.M., Bakr E.A., Abu-Youssef M.A.M., Soliman S.M., Yousri A. Synthesis of copper(II) and cobalt(II) complexes with bidentate s-triazine ligand bearing pyrazolyl moiety; X-ray structural studies and antimicrobial evaluation // Journal of Molecular Structure. 2025. V. 1348. P. 143453.
- Kuschel S., Ho P.J., Al Haddad A., Marinelli A., Gorkhover T. Non-linear enhancement of ultrafast X-ray diffraction through transient resonances // Nature Communications. 2025. V. 16. No. 1. P. 847.
- Уманский Я.С., Скаков Ю.А., Иванов А.Н., Расторгуев Л.Н. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия. М.: Металлургия, 1982. 632 с.
- Jagadeesha Angadi V., Kubrin S., Sayed M.A., Longo E., Basavegowda N. Structural and magnetic modulations in α-Fe2O3 ceramic nanoparticles: A multifaceted study with DFT calculations // Ceramics International. 2025. V. 51. No. 21. P. 33407–33414.
- Kipgen F., Singh L.R., Saikia P.J., Devi S.R., Hussain M.A. X-ray diffraction line profile analysis of nanocrystalline PbSe thin film prepared at different pH value by chemical bath deposition technique // Next Materials. 2025. V. 9. P. 101009.
Дополнительные файлы


