OBRATNAYa ZADAChA TEORII OTRAZhENIYa DLYa PYaTISLOYNYKh SIMMETRIChNYKh STRUKTUR

Cover Page

Cite item

Full Text

Open Access Open Access
Restricted Access Access granted
Restricted Access Subscription Access

Abstract

Получено точное аналитическое решение обратной задачи теории отражения для прозрачных структур с четырьмя границами раздела. Приведены соотношения, определяющие оптическую длину структуры, толщину подложки, угловое положение и абсолютные номера интерференционных минимумов.

References

  1. В. К. Громов, Весёлчие в эллипсометрию, Изд-во ЛГУ (1986).
  2. С. Н. Свиташева, Метод эллипсометрии для исследования ианоразмерных пленок диэлектриков, полупроводников и металлов, Изд-во СО РАН Новосибирск (2019).
  3. А. И. Семененко, И. А. Семененко, Научное приборостроение 23, 47 (2013).
  4. С. Н. Свиташева, ДАН СССР 318 (5), 1154 (1991).
  5. Д. В. Сивухин, Общий курс физики. Оптика, Наука, Москва (1980).
  6. Л. А. Федюхин, А. В. Горчаков, Е. А. Колосовский, Опт. и спектр. 128, 257 (2020).
  7. Л. А. Федюхин, А. В. Горчаков, ЖЭТФ 158, 792 (2020).
  8. Shyam Singh, Phys. Scr. 65, 167 (2002).
  9. А. Л. Брикс, В сб. Исследования в области оптических и световых измерений, Труды метрологических институтов СССР 193, 14 (1976).
  10. Л. А. Федюхин, А. В. Горчаков, Н. Г. Коробейщиков, И. В. Николаев, Письма в ЖЭТФ 114, 304 (2021).

Supplementary files

Supplementary Files
Action
1. JATS XML

Copyright (c) 2025 Russian Academy of Sciences

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).