Upper limit of mobility and concentration of charge carriers in fluoride superionic conductors with fluorite and tysonite structures
- Authors: Sorokin N.I.1
-
Affiliations:
- Shubnikov Institute of Crystallography of Kurchatov Complex of Crystallography and Photonics of NRC “Kurchatov Institute”
- Issue: Vol 69, No 3 (2024)
- Pages: 445-450
- Section: ФИЗИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА КРИСТАЛЛОВ
- URL: https://bakhtiniada.ru/0023-4761/article/view/263046
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0023476124030096
- EDN: https://elibrary.ru/XOKVGL
- ID: 263046
Cite item
Full Text
Abstract
Within the framework of a crystal-physical model, the maximum values of mobility and concentration of charge carriers in fluoride superionic conductors belonging to the structural types of fluorite (CaF2, SrF2, BaF2, PbF2) and tysonite (LaF3) were calculated. It has been shown that the upper limit of ionic conductivity, mobility and charge carrier concentration in the crystalline state of fluoride superionics is 4 ± 1 S/cm, (5 ± 1) × 10–3 cm2/(сВ) и (5 ± 2) × 1021 cm–3 (10 ± 4% of the total fluoride ions), respectively.
Full Text
ВВЕДЕНИЕ
Фториды, кристаллизующиеся в структурных типах флюорита (тип CaF2) и тисонита (тип LaF3), являются одними из лучших суперионных проводников с униполярной фтор-ионной электропроводностью [1–3]. Изучение их особенностей синтеза, дефектной структуры и свойств представляет особый интерес для химии и физики фторидов, фторидного материаловедения [4–6], сенсорики и химических источников тока [7–11].
Однако выполнение высокотемпературных электрофизических измерений фторидных кристаллов, находящихся в суперионном состоянии, затруднено из-за сильного негативного влияния реакции пирогидролиза на физические свойства неорганических фторидов в области высоких (T > 1000 K) температур. В настоящее время данные по высокотемпературной ионной проводимости доступны для ограниченного числа фторидных суперионных проводников [12–18].
Величина ионной проводимости кристаллов является интегральной характеристикой, зависящей от микроскопических параметров носителей заряда: подвижности и концентрации, частоты и расстояния прыжков, энтальпии активации ионного переноса. Для характеризации фторидных материалов с высокой анионной проводимостью важными параметрами являются максимальные значения подвижности (μmob) и концентрации (nmob) носителей заряда, достигаемые в кристаллическом состоянии.
Цель настоящей работы – оценка предельной величины подвижности и концентрации ионных носителей в кристаллах фторидных суперионных проводников, принадлежащих структурным типам флюорита и тисонита.
РАСЧЕТ ПОДВИЖНОСТИ И КОНЦЕНТРАЦИИ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА ВО ФТОРИДНЫХ СУПЕРИОННЫХ ПРОВОДНИКАХ
Расчет проводили для фторидов LiF (структурный тип поваренной соли), CaF2, SrF2, BaF2, PbF2 (тип флюорита), LaF3 (тип тисонита), а также в качестве сравнения для хлорида SrCl2 (тип флюорита). Структурные характеристики кристаллов приведены в табл. 1. Параметры элементарной ячейки фторидов взяты из [19, 20].
Таблица 1. Симметрия, число формульных единиц (Z), параметры элементарной ячейки (a, c) и концентрация ионов фтора (nF) в кристаллах фторидных соединений
Кристалл | Симметрия | Параметры решетки, Å | Концентрация nF, 1022 см–3 |
LiF | Fmm Z = 4 | a = 4.028 | 6.12 |
CaF2 | Fmm Z = 4 | a = 5.463 | 4.91 |
SrF2 | a = 5.800 | 4.10 | |
BaF2 | a = 6.200 | 3.36 | |
β-PbF2 | a = 5.940 | 3.82 | |
LaF3 | Pc1 Z = 6 | a = 7.186 с = 7.350 | 5.48 |
α-LuF3 | Pm1 Z = 1 | a = 4.018 c = 4.150 | 5.21 |
α-YF3 | Pm1 Z = 1 | a = 4.117 c =4.225 | 4.84 |
SrCl2 | Fmm Z = 4 | a = 6.978 | 2.35 |
Полная концентрация ионов фтора в кристаллических структурах фторидов равна
nF = NZ/Vc, (1)
где N – число фторов в химической формуле, Z – число формульных единиц, Vc – объем элементарной ячейки. Рассчитанные из структурных данных значения концентрации nF для фторидов даны в табл. 1.
Постоянно-токовая электропроводность ионных кристаллов является макроскопической физической величиной, объединяющей микроскопические характеристики носителей заряда. В суперионных фторидных проводниках с униполярной анионной проводимостью она равна
σF = qnmobμmob, (2)
где q, nmob и μmob – заряд, концентрация и подвижность ионов проводимости соответственно. Для разделения вкладов в электропроводность σF от подвижности µmob и концентрации nmob необходимо какую-либо из этих величин определить независимо. Отметим, что подвижность ионных носителей в суперионных кристаллах представляет самостоятельный научный интерес, поскольку характеризует микроскопическое движение ионов проводимости в кристаллической решетке по отношению к воздействию внешнего электрического поля. Предельные значения подвижности и концентрации ионных носителей определяют максимально достижимый уровень ионной электропроводности твердых тел.
В кристаллофизической модели “прыжкового” ионного транспорта (anion motion by discrete jumps) проводимость фторпроводящего кристалла и подвижность носителей заряда имеют вид [21]:
σF = γq2lh2nmob(1-n/nmob)νh/kT, (3)
μmob = γqlh2(1-n/nmob)νh/kT, (4)
где γ – числовой множитель, n – концентрация структурных позиций для ионов фтора в кристалле, lh и νh – длина и частота прыжков ионов фтора соответственно.
Частота прыжков ионных носителей равна
νh = V/lh, (5)
где V – средняя скорость их движения. Полагая выполнение закона сохранения энергии, имеем
mV2/2 = 3kT/2, (6)
где масса иона фтора равна m = 31.55 × 10–27 кг = = 18.9984 а. е. м. Вблизи температуры плавления выполняется условие n >> nmob, тогда подвижность ионных носителей можно записать в виде
μmob = γqlh√(3/mkT). (7)
Значения параметров nmob и lh определяются структурным механизмом ионного переноса в кристаллах.
Рассчитанные из уравнения (7) значения μmob для фторидов LiF, CaF2, SrF2, BaF2, PbF2, LaF3 и хлорида SrCl2 приведены в табл. 2. За температуру расчета принята температура плавления фторидов [14]. Структурные характеристики фторидных кристаллов взяты из [19, 20, 22, 23].
Таблица 2. Расчет подвижности ионных носителей заряда во фторидных кристаллах
Кристалл | ТемператураTfus, K [19] | Расстояние lh(F–F), Å | Диффузия DF, 10–5 см2/с | Подвижность μmob, 10–3 см2/(сВ) | |
по (7) | по (8) | ||||
LiF | 1121 | 2.014 | 4.2 | ||
CaF2 | 1691 | 2.731 | 3.84 ± 0.05 [13] 2.6 (1590 K) [24] | 4.6 | 2.6 1.9 |
SrF2 | 1737 | 2.900 | 4.9 | ||
BaF2 | 1627 | 3.100 | 8.8 [25] | 5.4 | 6.3 |
β-PbF2 | 1098 | 2.970 | 6.3 | ||
LaF3 | 1773 | 2.997 | 5.0 | ||
SrCl2 | 1148 | 3.489 | 5.3 |
С другой стороны, подвижность носителей заряда можно оценить из уравнения Нернста–Эйнштейна, связывающего подвижность mF и коэффициент диффузии ионов фтора DF:
μmob = qDF/kT, (8)
где k – постоянная Больцмана, T – температура. В уравнении (8) исходными данными служат значения коэффициента диффузии ионов F– при температуре плавления, полученные в основном методом молекулярной динамики.
Предельные значения коэффициента диффузии ионов фтора в супериониках CaF2 и BaF2 [13, 24, 25] равны DF = 10–5–10–4 см2/с. Отметим, что эти значения DF хорошо совпадают с коэффициентами диффузии ионов фтора в расплавах. Вопрос предельной величины коэффициента диффузии в суперионных проводниках подробно рассматривался в [26]. С учетом диффузионных данных [13, 24, 25] рассчитанные по уравнению (8) значения μmob для кристаллов CaF2 и BaF2 приведены в табл. 2. Из данных таблицы следует, что верхняя граница μmob в кристаллическом состоянии фторидных суперионных проводников составляет (5 ± 1) × 10–3 см2/(сВ).
В табл. 3 приведены экспериментальные данные по проводимости для рассматриваемых фторидных соединений LiF, CaF2, SrF2, BaF2, PbF2, LaF3 и хлорида SrCl2, а также даны кондуктометрические данные [16] для высокотемпературных модификаций α-LuF3, α-YF3 (структурный тип α-UO3 [27]). К сожалению, кристаллические модификации α-LuF3 и α-YF3 не закаливаются, поэтому их высокотемпературные структурные исследования не проводили. Можно видеть, что верхняя граница проводимости носителей заряда в кристаллическом состоянии суперионных фторидов составляет 4 ± 1 См/см.
Таблица 3. Расчет концентрации ионных носителей заряда во фторидных кристаллах
Кристалл | Температура Tfus, K [19] | Проводимость σ, См/см | Концентрация | |
nmob, см–3 | nmob/nF, % | |||
LiF | 1121 | 0.002 [16] | 3 × 1018 | 5 × 10–3 |
CaF2 | 1691 | 3.45 ± 0.30 [18] 3.56 [17] 4.0 [12] 5.1 ± 0.2 [13] | (4.3–6.9) × 1021 | 8.9–14.1 |
SrF2 | 1737 | 4 [14] 4.2 [12] | (5.1–5.4) × 1021 | 12.4–13.1 |
BaF2 | 1627 | 3.9 [12] | 4.5 × 1021 | 13.4 |
β-PbF2 | 1098 | 4 [15] | 4.0 × 1021 | 10.4 |
LaF3 | 1773 | 2.6 [28] | 3.2 × 1021 | 5.9 |
α-LuF3 | 1455 | 2.6 [16] | ||
α-YF3 | 1425 | 0.5 [16] | ||
SrCl2 | 1148 | 1.3 [12] 1.8 [14] | (1.5–2.1) × 1021 | 6.5–9.0 |
С учетом рассчитанных значений μmob из уравнения (2) можно оценить концентрацию носителей заряда и сравнить ее с общей концентрацией ионов фтора в кристаллах. Расчеты показывают, что концентрация носителей заряда равна (5 ± 2) × × 1021 см–3 или 10 ± 4% от общего количества ионов фтора.
Согласно полученным результатам модель “расплавленной подрешетки ионов проводимости” (cooperative liquid-like diffusion, sub-lattice melting) [21]) для фторидных суперионных проводников не справедлива. Основу этой модели составляет положение, что высокая ионная проводимость твердых тел обусловлена переходом подрешетки ионов проводимости в “расплавленное” состояние, при этом другие подрешетки остаются в “жестком” кристаллическом состоянии. В рамках такого подхода концентрация nmob мобильных ионов фтора должна составлять 100% от их содержания во фторидных кристаллах. Благодаря проведенным расчетам выявлено, что во фторидных суперионных кристаллах при плавлении концентрация носителей заряда меньше на порядок величины. Этот вывод хорошо согласуется с термодинамическими расчетами [29–31] концентрации носителей заряда для анионных и катионных проводников, согласно которым относительная концентрация носителей заряда в ионных кристаллах при плавлении составляет 10–20%.
При высоких температурах разупорядочение анионной подрешетки фторидных кристаллов со структурами флюорита и тисонита является причиной появления высокой фтор-ионной проводимости, при этом катионная подрешетка остается упорядоченной и не участвует в ионном транспорте. В [32] высказана гипотеза, что строение анионных подрешеток гетеровалентных твердых растворов M1–xRxF2+x (M = Ca, Sr, Ba; R – редкоземельные элементы) при комнатных температурах и их флюоритовых матриц MF2 при высоких температурах близки. Активно проводятся исследования дефектной структуры кристаллов M1–xRxF2+x (обзоры [4, 33, 34] и ссылки в них). Попытки сохранить до комнатной температуры высокотемпературное разупорядоченное состояние кристаллов MF2 методами термической обработки (закалкой) были неудачными. Непосредственно высокотемпературные структурные исследования [35, 36] выполнены только для флюоритовой модификации β-PbF2.
В табл. 4 приведены высокотемпературные данные по проводимости, подвижности и концентрации ионных носителей для флюоритовой модификации β-PbF2 и твердых растворов Pb1–xCdxF2 и Pb1–xScxF2+x на ее основе. Кристаллы Pb1–xCdxF2 и Pb1–xScxF2+x являются одними из лучших фторпроводящих суперионных проводников. Можно видеть, что максимальные значения подвижности и концентрации дефектов в твердых растворах того же порядка, что и во флюоритовой матрице. Полученные данные подтверждают высказанную в [32] гипотезу, что анионную подрешетку твердых растворов Pb1–xCdxF2 и Pb1–xScxF2+x можно рассматривать как стабилизированную изоморфными замещениями высокотемпературную разупорядоченную (по анионам) форму матрицы β-PbF2.
Таблица 4. Проводимость, подвижность и концентрация ионных носителей заряда во флюоритовой модификации β-PbF2 и твердых растворах на ее основе
Кристалл | Температура T, K | Проводимость σ, См/см | Подвижность μmob, см2/(сВ) | Концентрация nmob, см–3 |
β-PbF2 Tfus = 1098 K [19] | 1098 | 4 [15] | 6.3 × 10–3 | 4.0 × 1021 |
Pb0.67Cd0.33F2 Tfus = 1018 K [40] | 873 | 3.1 × 10–3[38] | 5.1 × 1021 [38] | |
Pb0.9Sc0.1F2.1 Tfus = 1023 K [41] | 873 | 3.7 × 10–3 [39] | 2.0 × 1021 [39] | |
β-PbSnF*4 | 597 | 0.2 [36] |
*Тетрагональное искажение флюоритовой структуры.
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
Рассчитана предельная величина подвижности ионов фтора в ионных кристаллах LiF (структурный тип NaCl), CaF2, SrF2, BaF2, PbF2 (структурный тип флюорита) и LaF3 (тип тисонита). Расчеты выполнены в рамках кристаллофизической модели “прыжкового” ионного переноса. Верхняя граница подвижности, концентрации носителей заряда и ионной проводимости в суперионных фторидах составляют (5 ± 1) × 10–3 см2/(сВ), (5 ± 2) × × 1021 см–3 и 4 ± 1 См/см соответственно. Полученные результаты будут способствовать пониманию процессов электропереноса во фторидных материалах с высокой анионной проводимостью.
Работа выполнена в рамках государственного задания НИЦ “Курчатовский институт”.
About the authors
N. I. Sorokin
Shubnikov Institute of Crystallography of Kurchatov Complex of Crystallography and Photonics of NRC “Kurchatov Institute”
Author for correspondence.
Email: nsorokin1@yandex.ru
Russian Federation, 119333 Moscow
References
- Иванов-Шиц А.К., Мурин И.В. Ионика твердого тела. Т. 2. СПб.: Изд-во СПбГУ, 2010. 1000 с.
- Preishuber-Pflugl F., Wilkening M. // Dalton Trans. 2016. V. 45. P. 8675. https:/doi.org/10.1039/c6dt00944a
- Duvel A., Bendnarcik J., Sepelak V., Heitjans P. // J. Phys. Chem. C. 2014. V. 118. P. 7117. https:/doi.org/10.1021/ jp410018t
- Suluanova E.A., Sobolev B.P. // CrystEngComm. 2022. V. 24. P. 3762. https:/doi.org/10.1039/d2ce00280a
- Сорокин Н.И., Соболев Б.П. // ФТТ. 2019. Т. 61. № 1. С. 53. https:/doi.org/10.21883/FTT.2019.01.46893.181
- Соболев Б.П. // Кристаллография. 2019. Т. 64. № 5. С. 701. https:/doi.org/10.1134/S0023476119050199
- Anji Reddy M., Fichtner M. // J. Mater. Chem. 2011. V. 21. P. 17059. https:/doi.org/10.1039/c1jm13535
- Karkera G., Anji Reddy M., Fichtner M. // J. Power Sources. 2021. V. 481. P. 228877. https:/doi.org/10.1016/j.jpowsour.2020.228877
- Xiao A.W., Galatolo G., Pasta M. // Joule. 2021. V. 5. P. 2823. https:/doi.org/1016/j.joule.2021.09.016
- Fergus J.W. // Sensors and Actuators. 1997. V. 42. P. 119.
- Sotoudeh M., Baumgart S., Dillenz M. et al. // ChemRxiv. 2023. https:/doi.org/10.26434/chemrxiv-2023-26618
- Voronin V.M., Volkov S.V. // J. Phys. Chem. Solids. 2001. V. 62. P. 1349.
- Evangelakis G.A., Pontikis V. // Phys. Rev. B. 1991. V. 43. № 4. P. 3180.
- Derrington C.E., Lindher A., O’Keeffe M. // J. Solid State Chem. 1975. V. 15. № 2. P. 171.
- Derrington C.E., O’Keeffe M. // Nature Phys. Sci. 1973. V. 246. № 19. P. 44.
- O’Keeffe M. // Science. 1973. V. 180. P. 1276.
- Baak T. // J. Chem. Phys.1958. V. 29. P. 1195.
- Ure R.W. // J. Chem. Phys. 1957. V. 26. P. 1363.
- Sobolev B.P. The rare earth trifluorides. Pt. 1. The temperature chemistry of the rare earth trifluorides. Institute of Crystallography, Moscow and Institut d’Estudis Catalans, Barcelona. 2000. 520 p.
- Гарашина Л.С., Соболев Б.П., Александров В.Б., Вишняков Ю.С. // Кристаллография. 1980. Т. 25. № 2. С. 294.
- Иванов-Шиц А.К., Мурин И.В. Ионика твердого тела. Т. 1. СПб.: Изд-во СПбГУ, 2000. 616 с.
- Mansmann M. // Z. Kristallgr. 1965. B. 122. S. 375.
- Belzner A., Schulz H., Heger G. // Z. Kristallgr. 1994. B. 209. S. 239.
- Jacucci G., Rahman A. // J. Chem. Phys. 1978. V. 69. № 9. P. 4117.
- Айтьян С.Х., Иванов-Шиц А.К. // ФТТ. 1990. Т. 32. № 5. С. 1360.
- O’Keeffe M. // Fast ion transport in solids / Ed. Van Gool W. Amsterdam: North-Holland, 1973. P. 165.
- Соболев Б.П., Гарашина Л.С., Федоров П.П. и др. // Кристаллография. 1973. Т. 18. Вып. 4. С. 751.
- Воронин В.М., Волков С.В. // Электрохимия. 2004. Т. 40. № 1. С. 54.
- Chadwick A.V. // Solid State Ionics. 1983. V. 8. P. 209.
- Bollmann W. // Cryst. Res. Technol. 1992. V. 27. № 5. P. 661.
- Bollmann W., Uvarov N.F., Hairetdinov E.F. // Cryst. Res. Technol. 1989. V. 24. № 4. P. 421.
- Fedorov P.P., Sobolev B.P. // J. Less-Common Metals. 1979. V. 63. P. 31.
- Sobolev B.P. The rare earth trifluorides. Pt. 2. Introduction to materials science of multicomponent metal fluoride crystals. Institute of Crystallography, Moscow and Institut d’Estudis Catalans, Barcelona. 2001. 460 p.
- Сорокин Н.И., Голубев А.М., Соболев Б.П. // Кристаллография. 2014. Т. 59. № 2. С. 275.
- Koto K., Schulz H., Huggins R.A. // Solid State Ionics. 1981. V. 3–4. P. 381.
- Shapiro S.M., Reidinger F. // Physics of Superionic Conductors / Ed. Salamon M.B. Berlin: Springer, 1979. P. 45.
- Сорокин Н.И., Соболев Б.П., Брайтер М. // ФТТ. 2002. Т. 44. С. 1506.
- Сорокин Н.И. // ФТТ. 2022. Т. 64. № 7. С. 847.
- Сорокин Н.И. // ФТТ. 2015. Т. 57. С. 1325.
- Сорокин Н.И. // ФТТ. 2018. Т. 60. С. 710.
- Сорокин Н.И., Бучинская И.И., Соболев Б.П. // Журн. неорган. химии. 1992. Т. 37. № 12. С. 2653.
- Федоров П.И., Трновцова В., Мелешина В.А. и др. // Неорган. материалы. 1994. Т. 30. С. 406.
- Бучинская И.И., Федоров П.П. // Успехи химии. 2004. Т. 73. № 4. С. 404.
Supplementary files
