The use of 2D diffractometry data for oriented samples in the choice of a unit cell


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

An approach for the substantiated choice of the indexing procedure of a diffraction pattern is described. The technique is based on a combined use of powder X-ray diffraction data in Bragg–Brentano schemes and 2D GIXD of mainly oriented polycrystalline samples.

Авторлар туралы

A. Sukhikh

Nikolaev Institute of Inorganic Chemistry, Siberian Branch; Novosibirsk National Research State University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: a_sukhikh@niic.nsc.ru
Ресей, Novosibirsk; Novosibirsk

T. Basova

Nikolaev Institute of Inorganic Chemistry, Siberian Branch; Novosibirsk National Research State University

Email: a_sukhikh@niic.nsc.ru
Ресей, Novosibirsk; Novosibirsk

S. Gromilov

Nikolaev Institute of Inorganic Chemistry, Siberian Branch; Novosibirsk National Research State University

Email: a_sukhikh@niic.nsc.ru
Ресей, Novosibirsk; Novosibirsk

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2017