Optical Diagnostics of WSe 2  Monolayers

K. A. Brekhov; K. A. Grishunin; N. A. Ilyin; A. P. Shestakova; S. D. Lavrov; E. D. Mishina

doi:10.1134/S106378501712015X

Optical Diagnostics of WSe₂ Monolayers

Авторлар: Brekhov K.A.¹, Grishunin K.A.¹, Ilyin N.A.¹, Shestakova A.P.¹, Lavrov S.D.¹, Mishina E.D.¹
Мекемелер:
1. Moscow Technological University
Шығарылым: Том 43, № 12 (2017)
Беттер: 1112-1114
Бөлім: Article
URL: https://bakhtiniada.ru/1063-7850/article/view/206863
DOI: https://doi.org/10.1134/S106378501712015X
ID: 206863

Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат
Рұқсат жабық

Рұқсат берілді
Рұқсат жабық

Тек жазылушылар үшін

Аннотация
Авторлар туралы
Әдебиет тізімі
Қосымша файлдар
Статистика

Аннотация

WSe₂ films have been studied by the method of second harmonic generation (SHG) in the 1200–1420 nm wavelength range at room temperature. Preliminary investigations of photoluminescence spectra and atomic force microscopy showed that the film consists of extended microcrystals and has a thickness of about 1 nm, which corresponds to a single monolayer. The SHG intensity spectrum showed the presence of a 1s (B)-exciton for 1.95-eV photon energy.