Informaçao sobre o Autor
Il’ina, M. V.
| Edição | Seção | Título | Arquivo |
| Volume 63, Nº 8 (2018) | Experimental Instruments and Technique | Atomic Force Microscopy Measurement of the Resistivity of Semiconductors | |
| Volume 63, Nº 11 (2018) | Physical Electronics | Nonuniform Elastic Strain and Memristive Effect in Aligned Carbon Nanotubes |