Surface Physics and Thin Films

Выпуск Название Файл
Том 58, № 11 (2016) Iron silicide-based ferromagnetic metal/semiconductor nanostructures PDF
(Eng)
Ovchinnikov S., Varnakov S., Lyashchenko S., Tarasov I., Yakovlev I., Popov E., Zharkov S., Velikanov D., Tarasov A., Zhandun V., Zamkova N.
Том 58, № 11 (2016) Circular photocurrent in Ag/Pd resistive films upon excitation by femtosecond laser pulses PDF
(Eng)
Mikheev G., Saushin A., Vanyukov V., Mikheev K., Svirko Y.
Том 58, № 10 (2016) Response of the capacitance and dielectric loss of the SrRuO3/SrTiO3/SrRuO3 film heterostructures to variations in temperature and electric field PDF
(Eng)
Boikov Y., Danilov V.
Том 58, № 10 (2016) Mechanism of the Yb2+ → Yb3+ valence transition in ytterbium nanofilms upon chemisorption of CO and O2 molecules on their surface PDF
(Eng)
Mittsev M., Kuz’min M., Loginov M.
Том 58, № 10 (2016) Intercalation synthesis of cobalt silicide under a graphene layer PDF
(Eng)
Grebenyuk G., Gomoyunova M., Vilkov O., Sen’kovskii B., Pronin I.
Том 58, № 9 (2016) Defect silicene and graphene as applied to the anode of lithium-ion batteries: Numerical experiment PDF
(Eng)
Galashev A., Rakhmanova O., Zaikov Y.
Том 58, № 9 (2016) Influence of “ytterbium nanofilm–silicon Si(111)” interfaces on the valence of ytterbium PDF
(Eng)
Mittsev M., Kuz’min M.
Том 58, № 9 (2016) A study of nanostructure magnetosolid Nd–Ho–Fe–Co–B materials via atomic force microscopy and magnetic force microscopy PDF
(Eng)
Andreeva N., Filimonov A., Rudskoi A., Burkhanov G., Tereshina I., Politova G., Pelevin I.
Том 58, № 9 (2016) Weak antilocalization in thin films of the Bi2Te2.7Se0.3 solid solution PDF
(Eng)
Abdullaev N., Alekperov O., Aligulieva K., Zverev V., Kerimova A., Mamedov N.
Том 58, № 9 (2016) Epitaxial gallium oxide on a SiC/Si substrate PDF
(Eng)
Kukushkin S., Nikolaev V., Osipov A., Osipova E., Pechnikov A., Feoktistov N.
Том 58, № 8 (2016) Charge transport across the metal–polymer film boundary PDF
(Eng)
Yumaguzin Y., Salikhov T., Shayakhmetov R., Salikhov R.
Том 58, № 7 (2016) Surface morphology and Raman spectroscopy of thin layers of antimony and bismuth chalcogenides PDF
(Eng)
Luk’yanova L., Bibik A., Aseev V., Usov O., Makarenko I., Petrov V., Nikonorov N., Kutasov V.
Том 58, № 7 (2016) Epitaxial growth of zinc oxide by the method of atomic layer deposition on SiC/Si substrates PDF
(Eng)
Kukushkin S., Osipov A., Romanychev A.
Том 58, № 7 (2016) Recrystallization and formation of spheroidal gold particles in amorphous-like AlN–TiB2–TiSi2 coatings after annealing and subsequent implantation PDF
(Eng)
Pogrebnjak A., Dem’yanenko A., Beresnev V., Sobol’ O., Ivasishin O., Oyoshi K., Takeda Y., Amekura H., Kupchishin A.
Том 58, № 7 (2016) Quasi-two-dimensional diamond crystals: Deposition from a gaseous phase and structural–morphological properties PDF
(Eng)
Alexeev A., Ismagilov R., Ashkinazi E., Orekhov A., Malykhin S., Obraztsov A.
Том 58, № 7 (2016) Intercalation of graphene on iridium with samarium atoms PDF
(Eng)
Afanas’eva E., Rut’kov E., Gall N.
Том 58, № 6 (2016) Gas release in the process of thermal treatment of sputtered Pb(Ti0.48Zr0.52)Ox films PDF
(Eng)
Znamenskii A., Ionov A., Marchenko V.
Том 58, № 6 (2016) Effect of bias voltage polarity of a substrate on the texture, microstructure, and magnetic properties of Ni films prepared by magnetron sputtering PDF
(Eng)
Dzhumaliev A., Nikulin Y., Filimonov Y.
Том 58, № 6 (2016) Electronic structure of the conduction band upon the formation of ultrathin fullerene films on the germanium oxide surface PDF
(Eng)
Komolov A., Lazneva E., Gerasimova N., Panina Y., Baramygin A., Zashikhin G.
Том 58, № 6 (2016) Formation of ZrO2 cubic phase microcrystals during crystallization of amorphous films deposited by laser ablation of Zr in an oxygen atmosphere PDF
(Eng)
Bagmut A., Bagmut I., Reznik N.
Том 58, № 6 (2016) Comparison of the spectra of a blackbody and thermally stimulated surface plasmon polaritons in the infrared range PDF
(Eng)
Khasanov I., Nikitin A., Trang T.
Том 58, № 5 (2016) Magnetoresonance properties of three-layer Co/Ge/Co films PDF
(Eng)
Patrin G., Kobyakov A., Turpanov I., Patrin K., Rautskii M.
Том 58, № 5 (2016) Study of the modification of spherical melamine-formaldehyde particles levitating in complex plasma PDF
(Eng)
Karasev V., Polishchyuk V., Gorbenko A., Dzlieva E., Ermolenko M., Makar M.
Том 58, № 5 (2016) Effect of interaction in the Ga–As–O system on the morphology of a GaAs surface during molecular-beam epitaxy PDF
(Eng)
Ageev O., Balakirev S., Solodovnik M., Eremenko M.
Том 58, № 5 (2016) Deposition of NiFe(200) and NiFe(111) textured films onto Si/SiO2 substrates by DC magnetron sputtering PDF
(Eng)
Dzhumaliev A., Nikulin Y., Filimonov Y.
51 - 75 из 81 результатов << < 1 2 3 4 > >> 

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».