Mechanism of microplasma turn-off upon the avalanche breakdown of silicon p–n structures


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

A possible mechanism for natural-microplasma turn-off in silicon p–n junctions is studied. It is shown that the turn-off effect is not a random process, but is based on a certain physical mechanism. The mechanism is associated with the formation of graded-gap regions caused by thermoelastic stresses and electric- field redistribution in the microplasma region.

Авторлар туралы

A. Musaev

Amirkhanov Institute of Physics, Dagestan Scientific Center

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: akhmed-musaev@yandex.ru
Ресей, ul. Yaragskogo 94, Makhachkala, 367003

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2016