Автор туралы ақпарат

Vasil’ev, V. I.

Шығарылым Бөлім Атауы Файл
Том 53, № 11 (2019) Surfaces, Interfaces, and Thin Films Investigation of Composition Uniformity in Thickness of GaInAsP Layers Grown on InP Substrates by Vapor-Phase Epitaxy