Informaçao sobre o Autor
Usov, U. V.
| Edição | Seção | Título | Arquivo |
| Volume 50, Nº 11 (2016) | XX International Symposium “Nanophysics and Nanoelectronics”, Nizhny Novgorod, March 14–18, 2016 | On the crystal structure and thermoelectric properties of thin Si1–xMnx films |