Автор туралы ақпарат
Presnyakov, M. Yu.
| Шығарылым | Бөлім | Атауы | Файл |
| Том 53, № 3 (2019) | Surfaces, Interfaces, and Thin Films | Structure and Properties of Zn-Implanted Si Near-Surface Layer Modification Depending on Irradiation Fluence of 132Xe26+ Ions with Energy of 167 MeV |