English
Kazakh
Português (Brasil)
Русский
简体中文
Беттің Тақырыбы
Semiconductors
ISSN 1063-7826 (Print) ISSN 1090-6479 (Online)
Мәзір     Мұрағат
  • Бастапқы
  • Журнал туралы
    • Редакция тобы
    • Редакция саясаты
    • Авторларға арналған ережелер
    • Журнал туралы
  • Шығарылымдар
    • Іздеу
    • Ағымдағы шығарылым
    • Ретракцияланған мақалалар
    • Мұрағат
  • Байланыс
  • Барлық журналдар
Пайдаланушы
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба? Тіркеу
Хабарламалар
  • Қарау
  • Тіркелу
Іздеу
Парақтау
  • шығарылымдар
  • Автор бойынша
  • атаулары бойынша
  • бөлімдер бойынша
  • басқа журналдар
Жазылу Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер GaAs GaAs Substrate GaN Gallium Nitride Sapphire Substrate Versus Characteristic annealing carbon nanotubes doping exciton graphene heterostructure heterostructures luminescence molecular-beam epitaxy photoconductivity photoluminescence quantum dots quantum well silicon thin films
×
Пайдаланушы
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба? Тіркеу
Хабарламалар
  • Қарау
  • Тіркелу
Іздеу
Парақтау
  • шығарылымдар
  • Автор бойынша
  • атаулары бойынша
  • бөлімдер бойынша
  • басқа журналдар
Жазылу Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер GaAs GaAs Substrate GaN Gallium Nitride Sapphire Substrate Versus Characteristic annealing carbon nanotubes doping exciton graphene heterostructure heterostructures luminescence molecular-beam epitaxy photoconductivity photoluminescence quantum dots quantum well silicon thin films
Бастапқы > Іздеу > Автор туралы ақпарат

Автор туралы ақпарат

Levinshtein, M. E.

Шығарылым Бөлім Атауы Файл
Том 50, № 3 (2016) Physics of Semiconductor Devices High-Voltage Silicon-Carbide Thyristor with an n-type Blocking Base
Том 50, № 5 (2016) Physics of Semiconductor Devices Isothermal current–voltage characteristics of high-voltage 4H-SiC junction barrier Schottky rectifiers
Том 51, № 2 (2017) Physics of Semiconductor Devices Analysis of the impact of non-1D effects on the gate switch-on current in 4H-SiC thyristors
Том 51, № 6 (2017) Physics of Semiconductor Devices On the limit of the injection ability of silicon p+–n junctions as a result of fundamental physical effects
Том 51, № 8 (2017) Physics of Semiconductor Devices Current–voltage characteristics of Schottky diodes at high current densities under the injection of minority carriers
Том 51, № 9 (2017) Physics of Semiconductor Devices Transient switch-off of a 4H-SiC bipolar transistor from the deep-saturation mode
Том 53, № 10 (2019) Physics of Semiconductor Devices Impact of High-Energy Electron Irradiation on Surge Currents in 4H-SiC JBS Schottky Diodes
Том 53, № 12 (2019) Electronic Properties of Semiconductors Effect of Irradiation with 15-MeV Protons on Low Frequency Noise in Power SiC MOSFETs
 

JOURNALS

Journals list

Search articles

LEGAL INFORMATION

Privacy Policy

User agreement

 

RCSI CONTATCS

phone: +7 (499) 941-01-15

address: Leninsky Prospekt 32a
Moscow, 119334

E-mail: info@rcsi.science

Technical support

E-mail: journals_support@rcsi.science 

PLATFORM POWERED BY

RUSSIAN CENTRE
FOR SCIENTIFIC INFORMATION

TOP