Informaçao sobre o Autor
Marchenko, D.E.
| Edição | Seção | Título | Arquivo |
| Volume 52, Nº 16 (2018) | 26th INTERNATIONAL SYMPOSIUM “NANOSTRUCTURES: PHYSICS AND TECHNOLOGY”. NANOSTRUCTURE CHARACTERIZATION | Сomposition Depth Profiling of the GaAs Native Oxide Irradiated by an Ar+ Ion Beam |