X-ray fluorescence determination of the surface density of thin chromium and iron films using reference samples of elements with close atomic numbers


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

In X-ray fluorescence determinations of the surface density of thin chromium and iron films, we studied the possibility of using an approach based on the application of reference samples of elements with close atomic numbers. It was shown that the proposed diagnostic approach ensures the determination of the surface density of films with rather high precision.

Об авторах

N. Mashin

Nizhny Novgorod State University

Автор, ответственный за переписку.
Email: mashin@chem.unn.ru
Россия, pr. Gagarina 23, building 5, Nizhny Novgorod, 603950

E. Chernyaeva

Nizhny Novgorod State University

Email: mashin@chem.unn.ru
Россия, pr. Gagarina 23, building 5, Nizhny Novgorod, 603950

A. Tumanova

Nizhny Novgorod State University

Email: mashin@chem.unn.ru
Россия, pr. Gagarina 23, building 5, Nizhny Novgorod, 603950

A. Ershov

Nizhny Novgorod State University

Email: mashin@chem.unn.ru
Россия, pr. Gagarina 23, building 5, Nizhny Novgorod, 603950

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2016

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).