Отправить статью по E-mail 
ВЛИЯНИЕ ОБЛУЧЕНИЯ ИОНАМИ Xe С ЭНЕРГИЕЙ 167 МЭВ НА СВЕРХПРОВОДЯЩИЕ СВОЙСТВА ВТСП-ЛЕНТ ВТОРОГО ПОКОЛЕНИЯ
- Авторы: Дегтяренко П.Н.1,2, Скуратов В.А.3, Васильев А.Л.4,5, Овчаров А.В.4, Петржик А.М.2,6, Семина В.К.3, Гаврилкин C.Ю.7, Новиков М.С.3, Малявина А.Ю.8, Амеличев В.А.2, Цветков А.Ю.7
-
Учреждения:
- Объединенный институт высоких температур Российской академии наук
- ООО "С-Инновации"
- Объединенный институт ядерных исследований
- Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт"
- Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет)
- Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук
- Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук
- Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ"
- Выпуск: Том 165, № 6 (2024)
- Страницы: 827-832
- Раздел: Статьи
- URL: https://bakhtiniada.ru/0044-4510/article/view/259043
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0044451024060099
- ID: 259043
Цитировать
Аннотация
Проведены систематические исследования ВТСП-лент второго поколения, облученных высокоэнергетичными ионами Xe с энергией 167 МэВ и флюенсами до 1 ・ 1012 см-2. Определено оптимальное значение флюенса (количества частиц, прошедших через 1 см2 поверхности образца) для получения максимального критического тока при различных температурах и внешних магнитных полях. Увеличение внешнего магнитного поля приводит к смещению пика критического тока в сторону больших значений флюенсов во всем диапазоне температур. Приводятся результаты микроструктурных исследований методами просвечивающей/растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифракции. Показано, что в результате облучения образуются ионные треки диаметром порядка 5–8 нм, выступающие в роли эффективных центров пиннинга. Рентгеноструктурный анализ свидетельствует о снижении остроты текстуры под воздействием облучения.
Об авторах
П. Н. Дегтяренко
Объединенный институт высоких температур Российской академии наук; ООО "С-Инновации"
Email: degtyarenkopn@gmail.com
Россия, 125412,Москва; 117246, Москва
В. А. Скуратов
Объединенный институт ядерных исследований
Email: skuratov@jinr.ru
Россия, 141989, Дубна, Московская обл.
А. Л. Васильев
Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт"; Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет)
Email: degtyarenkopn@gmail.com
Россия, 123182, Москва; 141701, Долгопрудный, Московская обл.
А. В. Овчаров
Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт"
Email: ovcharov.91@gmail.com
Россия, 123182, Москва
А. М. Петржик
ООО "С-Инновации"; Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук
Email: a.petrzhik@s-innovations.ru
Россия, 117246, Москва; 125009, Москва
В. К. Семина
Объединенный институт ядерных исследований
Email: degtyarenkopn@gmail.com
Россия, 141989, Дубна, Московская обл.
C. Ю. Гаврилкин
Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук
Email: gavrs@sci.lebedev.ru
Россия, 119991, Москва
М. С. Новиков
Объединенный институт ядерных исследований
Email: msnovikov@jinr.ru
Россия, 141989, Дубна, Московская обл.
А. Ю. Малявина
Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ"
Email: ayu.malyavina@gmail.com
Россия, 115409, Москва
В. А. Амеличев
ООО "С-Инновации"
Email: degtyarenkopn@gmail.com
Россия, 117246, Москва
А. Ю. Цветков
Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук
Автор, ответственный за переписку.
Email: degtyarenkopn@gmail.com
Россия, 119991, Москва
Список литературы
- A. Markelov, A. Valikov, V. Chepikov, A. Petrzhik, B. Massalimov, P. Degtyarenko, R. Uzkih, A. Soldatenko, A. Molodyk, K. Sim, and S. Hwang, Prog. Supercond. Cryog. 21, 29 (2019).
- A. Malozemoff, Annu. Rev. Mater. Res. 42, 373 (2012).
- A. Abrikosov, J. Phys. Chem. Solids 2, 199 (1957).
- G. Blatter, M. Feigel’man, V. Geshkenbein, A. Larkin, and V. Vinokur, Rev. Mod. Phys. 66, 1125 (1994).
- V. Selvamanickam, G. Carota, M. Funk, N. Vo, and P. Haldar, IEEE Trans. Appl. Supercond. 11, 3379 (2001).
- A. Catana, R. Broom, J. Bednorz, J. Mannhart, and D. Schlom, Appl. Phys. Lett. 60 1016 (1992).
- J. MacManus-Driscoll, S. Foltyn, Q. Jia, H. Wang, A. Serquis, B. Maiorov, L. Civale, Y. Lin, M. Hawley, M. Maley, and D. Peterson, Appl. Phys. Lett. 84, 5329 (2004).
- N. Strickland, S. Wimbush, J. Kennedy, M. Ridgway, E. Talantsev, and N. Long, IEEE Trans. Appl. Supercond. 25, 1 (2015).
- A. Erb, E. Walker, and R. Fl¨ukiger, Physica C Supercond. 258, 9 (1996).
- C. Varanasi, P. Barnes, J. Burke, L. Brunke, I. Maartense, T. Haugan, E. Stinzianni, K. Dunn, and P. Haldar, Supercond. Sci. Technol. 19, 37 (2006).
- A. Molodyk, S. Samoilenkov, A. Markelov, P. Degtyarenko, S. Lee, V. Petrykin, M. Gaifullin, A. Mankevich, A. Vavilov, B. Sorbom, J. Cheng, S. Garberg, L. Kesler, Z. Hartwig, S. Gavrilkin, A. Tsvetkov, T. Okada, S. Awaji, D. Abraimov, A. Francis, G. Bradford, D. Larbalestier, C. Senatore, M. Bonura, A. Pantoja, S. Wimbush, N. Strickland, and A. Vasiliev, Sci Rep. 11, 2084 (2021).
- E. Suvorova, P. Degtyarenko, I. Karateev, A. Ovcharov, A. Vasiliev, V. Skuratov, and P. Buffat, J. Appl. Phys. 126, 145106 (2019).
- E. Suvorova, P. Degtyarenko, A. Ovcharov, and A. Vasiliev, J. Surf. Investig. 16, 112 (2022).
- C. Bean, Phys. Rev. Lett. 8, 250 (1962).
- D. Larbalestier, A. Gurevich, D. Feldmann, and A. Polyanskii, Nature 414, 368 (2001).
Дополнительные файлы
