Study of the structure of interlayer boundaries in [Co/Cu] 10  superlattices by methods of NMR and X-ray reflectometry

S. A. Chuprakov; N. S. Bannikova; I. V. Blinov; T. P. Krinitsina; M. A. Milyaev; V. V. Popov; V. V. Ustinov

doi:10.1134/S0031918X16120048

Study of the structure of interlayer boundaries in [Co/Cu]₁₀ superlattices by methods of NMR and X-ray reflectometry

Авторлар: Chuprakov S.A.¹, Bannikova N.S.¹, Blinov I.V.¹, Krinitsina T.P.¹, Milyaev M.A.¹, Popov V.V.¹, Ustinov V.V.¹
Мекемелер:
1. Institute of Metal Physics, Ural Branch
Шығарылым: Том 117, № 12 (2016)
Беттер: 1192-1197
Бөлім: Electrical and Magnetic Properties
URL: https://bakhtiniada.ru/0031-918X/article/view/166463
DOI: https://doi.org/10.1134/S0031918X16120048
ID: 166463

Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат
Рұқсат жабық

Рұқсат берілді
Рұқсат жабық

Тек жазылушылар үшін

Аннотация
Авторлар туралы
Әдебиет тізімі
Қосымша файлдар
Статистика

Аннотация

Methods of nuclear magnetic resonance and X-ray reflectometry have been used to investigate the state of interfaces in Co/Cu superlattices with different thicknesses of the nonmagnetic layers of Cu. It has been shown that, with an increase in the thicknesses of Cu layers, the perfection of the structure of the interfaces deteriorates.